Charakterisierung und Anwendung photorefraktiver Sillenit-Kristalle

Es werden neuartige optische Methoden zur Charakterisierung photorefraktiver Kristalle vorgestellt, welche auf einfache Weise die Bestimmung von Kristallparametern, Kristallschnitt oder des internen elektrischen Abschirmfeldes in Silleniten ermöglichen. Die Anwendung photorefraktiver Kristalle zur kohärenten Strahlprofilformung in der sogenannten Dreiwellenmischung wird demonstriert. Es wird gezeigt, daß in der Echtzeit-Hologramminterferometrie die Kristalle in der sogenannten doppelten Zweiwellenmisch-Anordnung zur Messung von Phasenänderungen (auch im Videotakt) mit hoher Phasenauflösung angewendet werden könne