Auslegung amorpher Solarmodule fuer Kleingeraete durch Simulation und Messung. 2. Eingehende Darstellung der Untersuchungen Abschlussbericht

The investigations are described in detail. They comprised verifications using standardized industrial modules to identify the light characteristics in co-operation with Fraunhofer Gesellschaft, Freiburg, as well as measurements on a-Si modules for verification of the diode model on which the further investigations will be based. For this, light and dark characteristics were recorded at varying luminance. Different artificial light sources were compared in order to provide a basis for the final module and system design programme. Finally, the no-load voltage curves of a-Si modules were compared with the curves record for crystalline solar cells at varying luminance, and the effects of ageing of a-Si modules on the light and dark characteristic parameters were analyzed.Die Messaufgaben des Hellkennlinienmessplatzes bestanden in der Ueberpruefung der Modulparameter an 'geeichten' Modulen der Solarindustrie und einer Ueberpruefung der eigenen Referenzen in Zusammenarbeit mit der Fraunhofer Gesellschaft in Freibung. Wichtig war die Festlegung eines Beleuchtungsstaerke-Eichpunktes, so dass 'geeichte', von der Beleuchtungsstaerke abhaengige Messdiagramme aufgenommen werden konnten. Ein erstes Ziel war die Ausmessung einiger a-Si-Module zur Erstellung bzw. Ueberpruefung des Diodenmodells, welches fuer weiterfuehrende Modulmodelle und Systemmessungen zu Grunde gelegt werden soll. Dazu wurden Hellkennlinien und Dunkelkennlinien aufgenommen und eine Variation der Beleuchtungsstaerke durchgefuehrt. Ein Vergleich unterschiedlicher kuenstlicher Beleuchtungsquellen dient als Grundlage fuer ein angestrebtes Modul- und Systemauslegungsprogramm. Schliesslich wurde das Leerlaufspannungsverhalten von a-Si-Modulen mit denen von kristallinen Solazellen ueber der Beleuchtungsstaerke untersucht und der Einfluss der Alterung von a-Si-Modulen auf die Hell- und Dunkelkennlinienparameter betrachtet. Eine Modellentwicklung ist durchgefuehrt. (orig.)SIGLEAvailable from TIB Hannover: F01B564 / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische InformationsbibliothekBundesministerium fuer Bildung und Forschung, Berlin (Germany)DEGerman