Les faisceaux d’ions de l’ordre du MeV permettent la mise en œuvre de techniques d’analyse tant élémentaire (Ion Beam Analysis-IBA) que moléculaire (Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) pour des matériaux solides peu étudiés en raison de leur hétérogénéité: les mélanges de poudres. La première partie de notre travail est à placer dans le contexte de l’étude de la photodégradation des pesticides dans l’environnement à travers l’analyse ToF-SIMS de pesticides imprégnés dans des sols naturels. A partir d’une étude comparative du phénomène induit sur des dépôts sur des substrats homogènes nous présentons les résultats de la cinétique de dégradation pour plusieurs pesticides avec en particulier des valeurs de demi-vies. La seconde par...
8th European Conference on Accelerators in Applied Research and Technology, Natl Museum Folk Arts & ...
La Spectrométrie de Masse d'Ions Secondaires à Temps de Vol (ToF-SIMS) permet la caractérisation de ...
The author uses TOF-SIMS (Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) to characterize molecular ...
International audienceLe ToF-SIMS (Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry), technique prisée...
L'électronique organique a connu durant la dernière décennie un essor considérable. La production de...
ToF-SIMS has been increasingly widely used in recent years to look at biological matrices, in partic...
We discuss the potential of cluster ion beams for overcoming difficulties experienced within molecul...
International audienceLa technique de ToF-SIMS (time-of-flight secondary ion mass spectrometry) est ...
Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) is a powerful technique for the analysis o...
In addition to structural information, detailed knowledge of the local chemical environment proves t...
Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) is a powerful analytical technique with gr...
Ion Beam Analysis (IBA) consists of a set of analytical techniques addressing elemental composition ...
Ion beam analysis comprises of a group of analytical techniques tackling the elemental composition o...
Du fait du nombre croissant d'intoxications par les pesticides, il est important de développer des m...
Ion beam analysis (IBA) is a group of techniques that use high energy charged particles (ions) to de...
8th European Conference on Accelerators in Applied Research and Technology, Natl Museum Folk Arts & ...
La Spectrométrie de Masse d'Ions Secondaires à Temps de Vol (ToF-SIMS) permet la caractérisation de ...
The author uses TOF-SIMS (Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) to characterize molecular ...
International audienceLe ToF-SIMS (Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry), technique prisée...
L'électronique organique a connu durant la dernière décennie un essor considérable. La production de...
ToF-SIMS has been increasingly widely used in recent years to look at biological matrices, in partic...
We discuss the potential of cluster ion beams for overcoming difficulties experienced within molecul...
International audienceLa technique de ToF-SIMS (time-of-flight secondary ion mass spectrometry) est ...
Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) is a powerful technique for the analysis o...
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Ion Beam Analysis (IBA) consists of a set of analytical techniques addressing elemental composition ...
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