Resume- Une couche mince de metal e s t deposee sur la face l a plus longue d 'unprisme rectangulaire d ' indice no. Cette couche e s t recouverte par u n film mince transparent de liquide du m$me indice nQ, puis e s t prise en "sandwich " en plaqant par-dessus u n autre prisme identique au premier. On determine ainsi l e rapport des amplitudes complexes transmises, en polari-sation p e t s, par l e film qui e s t ainsi "suspendu " dans u n milieu uniforme d'indice no, ce qui permet d'evaluer les constantes optiques de ce film. Abstract- The metal film i s deposited on the longer face of a rectangular prism of index no. The film i s covered by a thin, transparent liquid film of index no, and i s sand...
L'incertitude sur la mesure éllipsométrique de l'épaisseur d'un film sur un substrat peut être déter...
The index of refraction is a material property that determines the speed of light propagating throug...
The full expression for the minima of transmission and reflection spectra of a thin absorbing film a...
Une couche mince de métal est déposée sur la face la plus longue d'un prisme rectangulaire d'indice ...
Nous décrivons ici une méthode explicite nouvelle de détermination simultanée de l'indice complexe e...
The author explains the method used for the study of thin polishing films and of artificial, transpa...
A sensitivity study is conducted on the polarimetric measurable [delta] = ([delta]p-[delta]s), the d...
Les caractéristiques suivantes rendent l'éllipsométrie utile pour résoudre de nombreux problèmes con...
A method is presented whereby the thickness and complex refractive index of a very think, partially ...
On décrit dans cet article une méthode ellipsométrique d'extinction simple et de haute précision pou...
The ratio ρt = Tp/Ts of the complex amplitude transmission coefficients for the p and s polarization...
On développe une théorie générale, du deuxième ordre par rapport à l'épaisseur et à la rugosité supe...
A scheme of combined reflection and transmission ellipsometry on light-transmitting ambient-film-sub...
Ellipsometry is a powerful technique for the determination of complex refractive indices n=n+ik of t...
Recent development of new products has given rise to stringent requirements for precision deposition...
L'incertitude sur la mesure éllipsométrique de l'épaisseur d'un film sur un substrat peut être déter...
The index of refraction is a material property that determines the speed of light propagating throug...
The full expression for the minima of transmission and reflection spectra of a thin absorbing film a...
Une couche mince de métal est déposée sur la face la plus longue d'un prisme rectangulaire d'indice ...
Nous décrivons ici une méthode explicite nouvelle de détermination simultanée de l'indice complexe e...
The author explains the method used for the study of thin polishing films and of artificial, transpa...
A sensitivity study is conducted on the polarimetric measurable [delta] = ([delta]p-[delta]s), the d...
Les caractéristiques suivantes rendent l'éllipsométrie utile pour résoudre de nombreux problèmes con...
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On décrit dans cet article une méthode ellipsométrique d'extinction simple et de haute précision pou...
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On développe une théorie générale, du deuxième ordre par rapport à l'épaisseur et à la rugosité supe...
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Ellipsometry is a powerful technique for the determination of complex refractive indices n=n+ik of t...
Recent development of new products has given rise to stringent requirements for precision deposition...
L'incertitude sur la mesure éllipsométrique de l'épaisseur d'un film sur un substrat peut être déter...
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The full expression for the minima of transmission and reflection spectra of a thin absorbing film a...