ELLIPSOMETRY OF UNSUPPORTED AND EMBEDDED THIN FILMS

Nous décrivons ici une méthode explicite nouvelle de détermination simultanée de l'indice complexe et de l'épaisseur des couches minces absorbantes sans support par ellipsométrie de réflexion et transmission. Cette technique a été appliquée au cas d'une lame d'or.A technique for the simultaneous and explicit determination of the complex refractive index and thickness of an unbacked or embedded thin film by combined reflection and transmission ellipsometry at any angle of incidence is presented and applied to an ultrathin gold foil