Bu çalışmada, CdS ince filmleri ultrasonik kimyasal püskürtme tekniği kullanılarak üretildi. CdS ince filmlerinin optik özellikleri spektroskopik elipsometre ve UV-VIS spektrofotometre kullanılarak belirlendi. Cam tabanlar üzerine depolanan CdS ince filmlerinin optik özellikleri değişken açılardaki spektroskopik ellipsometre ölçüleri kullanılarak incelendi. Kalınlıkların ve optik sabitlerin hesaplamaları değişken açılardaki elipsometrik ölçümler kullanılarak yapıldı. En duyarlı gelme açısını belirlemek için çeşitli açılarda ölçümler yapıldı. Uygun gelme açısı, ï¹ ve ï„ grafikleri kullanılarak deneysel olarak elde edildi. CdS ince filmlerinin kalınlıklarını, kırılma indisi ve sönüm katsayısı değerlerini belirlemek için Cauchy-Urbach modeli k...
View in ORKG