Měření rychlých teplotních procesů při materiálových testech

Příspěvek se zabývá rychlým měřením teploty při testování materiálu trhací zkouškou za studena. Z důvodu krátkého trvání zkoušky (okolo 10 sekund) je důležité získat údaje o teplotě s poměrně vysokou frekvencí (alespoň 50 Hz na jeden termočlánek). Levné měřicí karty s termočlánkovými vstupy jsou schopny získávat obvykle údaje s frekvencí 1÷10 Hz. Pokročilejší měřicí karty pro termočlánky poskytují vzorkování např. 400 Hz, ale jsou dosti drahé. Z tohoto důvodu jsme pro měření teploty použili levnou a rychlou univerzální AD měřicí kartu se zesílením pro termočlánkové vstupy. V příspěvku je popsána maximální možná rychlost měření teploty s multiplexovanými AD vstupy.This contribution is specialized in quick temperature measurement on metal material upon the cold tensile test. Because of short duration of cold tensile test (about ten seconds); it is important to acquire temperature data quite frequently(at least 50 Hz for one thermocouple). The typical data acquisition card for thermocouples are possible to scan about 10 temperature samples at second, some advantage types are possible to scan at about 400Hz (but expensive card). Because of that, we used a quite cheap, universal AD acquisition card, with integrated high gain for thermocouples. In this contribution will be discussed the maximal speed of the temperature measurement with multiplexed AD inputs