Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Bestimmung der Permeationsrate einer Probe für mindestens einen Permeaten, insbesondere Wasserdampf, bei der mehrere Detektoren, die zur ortsaufgelösten spektralen Analyse elektromagnetischer Strahlung innerhalb eines Wellenlängenintervalls ausgebildet sind, in einer Reihen oder einer Reihen- und Spaltenanordnung angeordnet sind. Die Detektoren sind mit einer elektronischen Auswerteeinheit verbunden und so angeordnet, dass von einer breitbandigen Strahlungsquelle emittierte elektromagnetische Strahlung entweder nach einer Reflexion an der Oberfläche der Probe, einer auf der Probe ausgebildeten Schicht oder an der Oberfläche einer Schicht innerhalb der Probe und/oder nach dem Durchstrahlen einer für ...
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und ein System zum Bestimmen einer mechanischen Ver...
Bekannt ist eine optische Anrege-/Abfrageanordnung (2, 2') mit einem Signaleingang (3) und zwei Sign...
Die Erfindung betrifft ein Bauteil (10; 30), umfassend eine erste Funktionsschicht (12; 32), innerha...
Bei der Anordnung zur Bestimmung der erreichbaren Haftfestigkeit vor Ausbildung einer stoffschlüssig...
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Spektrometrie an einer Probe mit den Schritten,...
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Bestimmung der Tiefe von in Oberflächen eines Substrates, ...
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung der Porengrössenverteilung eines porösen Materia...
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Detektion von sich entlang einer Trajektorie be...
Verfahren zur Spektrometrie an einer räumlich ausgedehnten Probe mit Generieren eines Masses für ein...
In der vorliegenden Arbeit wurde die Messbarkeit von anelastischem Materialverhalten im Zugversuch a...
Zur Kennzeichnung der Werkstoffeigenschaften eines Pruef objekts werden die elektrische Leitfaehigke...
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Bestimmen der Schichtdicke...
Für die Bestrahlung von Metallproben mit hochenergetischen Elektronen zwischen 3 Kund 450 K wurde ei...
Es wurde eine Anlage aufgebaut, in der Proben bei 4,5°K mit hohen Elektronendosen bestrahlt werden k...
Es sind Vorrichtungen zur Bestimmung der Konzentration zumindest eines Gases in einem Probengasstrom...
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und ein System zum Bestimmen einer mechanischen Ver...
Bekannt ist eine optische Anrege-/Abfrageanordnung (2, 2') mit einem Signaleingang (3) und zwei Sign...
Die Erfindung betrifft ein Bauteil (10; 30), umfassend eine erste Funktionsschicht (12; 32), innerha...
Bei der Anordnung zur Bestimmung der erreichbaren Haftfestigkeit vor Ausbildung einer stoffschlüssig...
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Spektrometrie an einer Probe mit den Schritten,...
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Bestimmung der Tiefe von in Oberflächen eines Substrates, ...
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung der Porengrössenverteilung eines porösen Materia...
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Detektion von sich entlang einer Trajektorie be...
Verfahren zur Spektrometrie an einer räumlich ausgedehnten Probe mit Generieren eines Masses für ein...
In der vorliegenden Arbeit wurde die Messbarkeit von anelastischem Materialverhalten im Zugversuch a...
Zur Kennzeichnung der Werkstoffeigenschaften eines Pruef objekts werden die elektrische Leitfaehigke...
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Bestimmen der Schichtdicke...
Für die Bestrahlung von Metallproben mit hochenergetischen Elektronen zwischen 3 Kund 450 K wurde ei...
Es wurde eine Anlage aufgebaut, in der Proben bei 4,5°K mit hohen Elektronendosen bestrahlt werden k...
Es sind Vorrichtungen zur Bestimmung der Konzentration zumindest eines Gases in einem Probengasstrom...
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Bekannt ist eine optische Anrege-/Abfrageanordnung (2, 2') mit einem Signaleingang (3) und zwei Sign...
Die Erfindung betrifft ein Bauteil (10; 30), umfassend eine erste Funktionsschicht (12; 32), innerha...