Efectos térmicos en microscopía túnel asistida por láser

En la mayoria de los experimentos de microscopía túnel asistida por láser, se modula la intensidad de la luz incidente, a fin de discriminar la señal fotoinducida de la corriente túnel normal, y obtener la información adicional producida por la radiación. Al iluminar la muestra con un haz modulado en intensidad, la absorción no resonante de la luz produce la dilatación térmica de la punta y de la muestra a la frecuencia de modulación, oscureciendo otros posibles efectos inducidos por la radiación. Este ruido térmico limita el empleo de luz modulada, en los experimentos de fluorescencia u óptica no lineal de campo cercano, en los que se desea una alta resolución espacial. En esta tesis se propone un método en el cual la expansión térmica a la frecuencia de modulación puede ser reducida varios órdenes de magnitud. El método se basa en la iluminación de la muestra con la interferencia producida por dos haces con diferentes direcciones de propagación y frecuencias de modulación. El patrón de interferencia así formado da lugar a variaciones espacialmente periódicas de temperatura en la superficie de la muestra. Al variar la frecuencia de modulación de uno de los haces respecto al otro, la fase del patrón de interferencia se mueve dando lugar a ondas viajeras dentro de la zona iluminada. Se midió la reducción en la señal inducida con este esquema de ondas viajeras, obteniendo una reducción de más de tres órdenes de magnitud en la componente térmica de la señal