Une Synthèse des Tests de Racine Unitaire sur Données de Panel

National audienceThis article proposes an overview of the recent developments relating to panel unit root tests. After a brief review of the first generation panel unit root tests, this paper focuses on the tests belonging to the second generation. The latter category of tests is characterized by the rejection of the cross-sectional independence hypothesis. Within this second generation of tests, two main approaches are distinguished. The first one relies on the factor structure approach and includes the contributions of Bai and Ng (2001), Phillips and Sul (2003a), Moon and Perron (2004a), Choi (2002) and Pesaran (2003) among others. The second approach consists in imposing few or none restrictions on the residuals covariance matrix and has been adopted notably by Chang (2002, 2004), who proposed the use of nonlinear instrumental variables methods or the use of bootstrap approaches to solve the nuisanceparameter problem due to cross-sectional dependency.Cet article propose une synthèse de la littérature concernant les tests de racine unitaire en panel. Deux principales évolutions peuvent être mises en évidence dans cette voie de recherche depuis les travaux fondateurs de Levin et Lin (1992). D'une part, on a pu assister depuis la fin des années 90 à une évolution tendant à prendre en compte une hétérogénéité des propriétés dynamiques des séries étudiées, avec notamment les travaux d'Im, Pesaran et Shin (1997) et de Maddala et Wu (1999). D'autre part, un second type de développements récents dans cette littérature tend à introduire une dichotomie entre deux générations de tests : la première génération repose sur une hypothèse d'indépendance entre les individus, ce qui apparaît peu plausible notamment dans le cas de certaines applications macro-économiques. La seconde génération, actuellement en plein développement, intègre diverses formes possibles de dépendances inter-individuelles (Bai et Ng (2001), Phillips et Sul (2003a), Moon et Perron (2004), Choi (2002), Pesaran (2003) et Chang (2002)). Ces deux générations de tests sont présentées dans cette revue de la littérature