階層型DHTにおける効率的な探索手法の提案と評価

DHTにおける探索手法である再帰探索と反復探索は，ノードの離脱といったchurn動作の影響により探索の性能が悪化することがわかっている．churnが少ない場合においては反復探索より再帰探索の方が有効に働き，多くなると再帰探索が不利となり反復探索が有効となる．よって，最適な探索を行うために，churnの頻度により再帰探索と反復探索を使い分けることが必要となる．そこで本研究では，churn率によって再帰探索と反復探索を使い分ける探索手法を提案する．しかし，一般的なDHTでは周囲のchurn率を把握することが困難である．DHTを階層化した階層型DHTがあり，ノードの信頼性を考慮してノードを集約する階層型DHTではchurn率を把握することができる．そこで，信頼性を考慮した階層型DHTに対して再帰探索と反復探索を使い分ける探索手法を適用する．また，再帰探索，反復探索のどちらか一方のみを利用した場合と比較して，両探索手法の利点を活かすことができることをシミュレーション評価により示す