Предлагается критический анализ международных стандартов определения разрешающей способности рентгеноспектральных приборов. Анализируется решение, полученное Зиболдом для количественного рентгеноспектрального электронно-зондового микроанализа в случае двухкомпонентного образца. Показано, что предлагаемый Зиболдом критерий не является пределом обнаружения в этом случае анализа. Результат может быть существенно улучше
Экспериментально исследовано воздействие электростатических разрядов на микроконтроллеры типа ...
Синтезирован микрокапсулированный материал, содержащий в качестве экстрагента дибензо-18-краун-6 (ДБ...
Представлен новый подход к планированию эксперимента по технической диагностике микроконтроллеров с ...
Повышение технического совершенства микропроцессорной токовой защиты линий распределительных сетей о...
Рассмотрена конструкция термически изолированного мембранного микросенсора с теплорас- пределяющей ...
The description of algorithm and results of development of the software package for accumulation and...
The description of algorithm and results of development of the software package for accumulation and...
The description of algorithm and results of development of the software package for accumulation and...
341-344Путем решения обратной СДВ задачи определены характеристики границы спорадического Ds слоя, в...
The description of algorithm and results of development of the software package for accumulation and...
Мікроелектронний чотиризондовий пристрій для вимірювання напівпровідникового опору містить котушку і...
Нанотехнологии, наноструктуры, квантовые явления. Наноэлектроника. Приборы на квантовых эффектахС по...
Экспериментально исследовано воздействие электростатических разрядов на микроконтроллеры типа ...
Экспериментально исследовано воздействие электростатических разрядов на микроконтроллеры типа ...
Путем решения обратной СДВ задачи определены характеристики границы спорадического Ds слоя, вызванно...
Экспериментально исследовано воздействие электростатических разрядов на микроконтроллеры типа ...
Синтезирован микрокапсулированный материал, содержащий в качестве экстрагента дибензо-18-краун-6 (ДБ...
Представлен новый подход к планированию эксперимента по технической диагностике микроконтроллеров с ...
Повышение технического совершенства микропроцессорной токовой защиты линий распределительных сетей о...
Рассмотрена конструкция термически изолированного мембранного микросенсора с теплорас- пределяющей ...
The description of algorithm and results of development of the software package for accumulation and...
The description of algorithm and results of development of the software package for accumulation and...
The description of algorithm and results of development of the software package for accumulation and...
341-344Путем решения обратной СДВ задачи определены характеристики границы спорадического Ds слоя, в...
The description of algorithm and results of development of the software package for accumulation and...
Мікроелектронний чотиризондовий пристрій для вимірювання напівпровідникового опору містить котушку і...
Нанотехнологии, наноструктуры, квантовые явления. Наноэлектроника. Приборы на квантовых эффектахС по...
Экспериментально исследовано воздействие электростатических разрядов на микроконтроллеры типа ...
Экспериментально исследовано воздействие электростатических разрядов на микроконтроллеры типа ...
Путем решения обратной СДВ задачи определены характеристики границы спорадического Ds слоя, вызванно...
Экспериментально исследовано воздействие электростатических разрядов на микроконтроллеры типа ...
Синтезирован микрокапсулированный материал, содержащий в качестве экстрагента дибензо-18-краун-6 (ДБ...
Представлен новый подход к планированию эксперимента по технической диагностике микроконтроллеров с ...