Buildup of an FPGA-based test system and evaluation of the capabilities of ATML (Automatic Test Markup Language) for embedded systems

Die zunehmende Komplexität von "Embedded Systems" gepaart mit hohen Qualitätsansprüchen und stetig steigendem Zeitdruck erfordert höhere Wiederverwendbarkeit von Testfällen. Um dieses Ziel zu erreichen, wird versucht, standardisierte Frameworks für die Integration und den Austausch von testrelevanten Informationen zu schaffen. ATML (Automatic Test Markup Language) besteht aus einer Menge von XML basierten Standards, in der Informationen über Prüfling, Teststrategien, Beschreibung der Testsystemkonfiguration und vieles mehr ausgetauscht und wiederverwendet werden können. Ziel der Diplomarbeit ist es, in Zusammenarbeit mit National Instruments (NI) ein FPGA (Field Programmable Gate Array) basiertes Testsystem für "Embedded Systems" aufzubauen und die Einsatzmöglichkeiten von ATML zu evaluieren