Fehler mit Digitalmikroskopen charakterisieren: Tiefenzusammensetzung erlaubt einheitlich dargestellte und 3D-Bilder von großen Vorsprüngen und Vertiefungen

Ondratschek, Dieter

Publication date

January 2010

Abstract

Am Fraunhofer IPA wird zusätzlich zu den herkömmlichen Verfahren, etwa der Querschliff-Methode sowie der Licht- und Rasterelektronenmikroskopie, die digitale Mikroskopie zum Charakterisieren von Lackierfehlern eingesetzt

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Fehler mit Digitalmikroskopen charakterisieren: Tiefenzusammensetzung erlaubt einheitlich dargestellte und 3D-Bilder von großen Vorsprüngen und Vertiefungen

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