Изучение тестера 14ТКС-100-001 и технологии автоматизированного контроля биполярных транзисторов

Чернобровин Н. Г.
Ястребов С. Е.
Государственный комитет РСФСР по делам науки и высшей школы
Куйбышевский авиационный институт им. С. П. Королева

Publication date

January 1991

Abstract

Изучение тестера 14ТКС-100-001 и технологии автоматизированного контроля биполярных транзисторов . Рассмотрены технические характеристики и структура тестера 14TKC-I00-001, принципы и схемы измерения статических параметров биполярных транзисторов. Описана технология автоматизированной проверки транзисторов на тестере. Предназначены для студентов специальности 23.03. Составлены на кафедре 'Микроэлектроника и технология радиоэлектронное аппаратуры".Используемые программы: Adobe Acrobat.Труды сотрудников КуАИ (электрон. версия)