MEMS-testauslaitteiston osumatarkkuuden laadunvarmistusprosessin kehittäminen

Tutkimus toteutettiin Suomalaiselle MEMS-testauslaitteistoja suunnittelevalle ja valmistavalle yritykselle. Tutkimuksen tarkoituksena oli parantaa yrityksen erityistä paikoitustarkkuutta vaativien laitteistojen laadullista testaamista. Yrityksen laadunvarmistus paikoitustarkkuuden osalta oli lähtötasoltaan pääosin tuntematon ja yleisiin normeihin sitomaton. Tutkimuksen teoriaosuudessa perehdyttiin laadun määritelmään, laitteistotestauksen aiempiin tutkimuksiin, sekä standardeihin ISO 9001:2015, ISO 230:1 ja ISO 230:2. Nykytilan osalta kuvattiin yrityksen lähtötaso viimeisimpien laitetoimitusprojektien osalta paikoitustarkkuuden osalta. Näistä jalostettiin gap-analyysi tasojen erojen havainnoimiseksi. Gap-analysointiin käytettiin tietoja yrityksen viimeisimmistä kiekkotason MEMS-testauslaitteistoprojekteista. Gap-analyysissä havaittiin yhteneväisyyksiä tavoitetilaan nähden, varsinkin ISO 9001:2015-standardin osalta. Eroja löytyi tarkkuutta vaativien testiosioiden projektinaikaisesta dokumentaatiosta, sekä lopullisen laitteistotestausdokumentin testiosioiden puutteellisuudesta. Tutkimuksen tuloksena syntyi laatuun keskittyviä kehityskohteita ja toimenpiteitä. Näitä parantamalla yrityksen on mahdollista kehittää tuotteidensa laadun osoittamista ja kehittämistä