Tolérance aux fautes dans les implémentations matérielles des réseaux de neurones à impulsions

Artificial Intelligence (AI) and machine learning algorithms are taking up the lion's share of the technology market nowadays, and hardware AI accelerators are foreseen to play an increasing role in numerous applications, many of which are mission-critical and safety-critical. This requires assessing their reliability and developing cost-effective fault tolerance techniques; an issue that remains largely unexplored for neuromorphic chips and Spiking Neural Networks (SNNs). A tacit assumption is often made that reliability and error-resiliency in Artificial Neural Networks (ANNs) are inherently achieved thanks to the high parallelism, structural redundancy, and the resemblance to their biological counterparts. However, prior work in the literature unraveled the falsity of this assumption and exposed the vulnerability of ANNs to faults. This requires assessing their reliability and developing cost-effective fault tolerance techniques; an issue that remains largely unexplored for neuromorphic chips and Spiking Neural Networks (SNNs). In this thesis, we tackle the subject of testing and fault tolerance in hardware SNNs. We start by addressing the issue of post-manufacturing test and behavior-oriented self-test of hardware neurons. Then we move on towards a global solution for the acceleration of testing and resiliency analysis of SNNs against hardware-level faults. We also propose a neuron fault tolerance strategy for SNNs, optimized for low area and power overhead. Finally, we present a hardware case-study which would be used as a platform for demonstrating fault-injection experiments and fault-tolerance capabilities.L'intelligence artificielle et les algorithmes d'apprentissage automatique sont au sommet du marché de la technologie de nos jours. Dans ce contexte, les accélérateurs matériels d'IA devraient jouer un rôle de plus en plus primordial pour de nombreuses applications, surtout ceux ayant une mission critique et un haut niveau de sécurité. Cela nécessite d'évaluer leur fiabilité et de développer des techniques peu coûteuses de tolérance aux fautes; un problème qui reste largement inexploré pour les puces neuromorphiques et les réseaux de neurones impulsionnels. Il est souvent présumé que la fiabilité et la résilience aux erreurs dans les Réseaux de Neurones Artificiels sont intrinsèquement obtenues grâce au parallélisme, à la redondance structurelle et à la ressemblance avec les réseaux de neurones biologiques. Cependant, des travaux antérieurs dans la littérature ont révélé le non-fondement de cette hypothèse et ont exposé la vulnérabilité des ANN aux fautes. Dans cette thèse, nous abordons le sujet de test et de la tolérance aux fautes pour les SNNs matériels. Nous abordons tout d’abord la question du test de post-fabrication des réseaux de neurones matériels et de leur autotest orienté sur le comportement. Puis, nous nous dirigeons vers une solution globale pour l'accélération des tests et l'analyse de la résilience des SNN contre les défauts au niveau matériel. Après ça, nous proposons une stratégie de tolérance aux fautes des neurones pour les SNNs qui a été optimisée afin de minimiser les surcoûts en surface et puissance du circuit. Enfin, nous présentons une étude de cas matériel qui serait utilisée comme plateforme pour démontrer les expériences d'injection de fautes