Caracterización nanopartículas por método de microscopia electrónica de barrido y espectroscopia de energía dispersiva de rayos X

Este artículo académico tiene como finalidad la caracterización de nanopartículas por método de microscopia electrónica de barrido (SEM) y espectroscopia de energía dispersiva de rayos X (EDX). El fin es avanzar en investigación científica en el campo de estudio de nanopartículas para la Universidad Politécnica Salesiana sede Guayaquil, dar un paso a la meta del desarrollo de nanomateriales. En ese sentido, se pretende la caracterización de nanopartículas por método de SEM Y EDX de las nanopartículas: PS-KM317, SiO2-SC94, SiO2-NH2-AR1003.The purpose of this academic article was the characterization of nanoparticles by scanning electron microscopy and X-ray energy dispersive spectroscopy. The aim is to advance in scientific research in the field of study of nanoparticles for the Salesian Polytechnic University headquarters Guayaquil, to take a step towards the goal of the development of nanomaterials. In this sense, the characterization of nanoparticles by SEM and EDX method of the nanoparticles PS-KM317, SiO2-SC94, SiO2-NH2-AR1003 is intended