National audienceNous illustrons dans ce papier les effets du couplage entre les microvias et les cavités dans les PCB multicouches. Dans un premier temps, nous mettons en évidence, à l'aide de mesures des paramètres S, les dégradations entraînées par le couplage entre les vias et les cavités créées par les plans métalliques. Ceci est illustré dans le cas d'une double transition réalisée à l'aide de microvias empilés, reliant des lignes microrubans placées au niveau M1 à une ligne stripline située au niveau M3. Nous identifions le problème et nous proposons ensuite une technique permettant de limiter ces couplages et les dégradations des signaux au sein des PCB multicouches. Finalement, nous appliquons cette technique au cas de l'excitation...
National audienceLes applications microfluidiques à haut débit visent à miniaturiser un laboratoire ...
National audienceDans cette communication, les propriétés d'une couche mince ferroélectrique de BaSr...
National audienceCet article propose une technique pour le contrôle de la dispersion et du temps de ...
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National audienceCet article présente les travaux initiés au Lab-STICC et au LAAS sur la conception ...
National audienceLa miniaturisation des dispositifs électroniques est un enjeu majeur dans le cadre ...
National audienceLa miniaturisation des filtres embarqués reste un souci majeur du secteur spatial. ...
National audienceCet article présente un filtre SIW (Substrate Integrated Waveguide) d'ordre 6 en ba...
National audienceNous développons ici une modélisation simple du couplage entre les microvias et les...
National audienceAnalyse multi-physique pour la tenue en puissance des dispositifs passifs hyperfréq...
National audienceDans cet article nous présentons la conception d'un filtre SIW d'ordre 6 avec un ré...
International audienceDans le cadre de la technologie PCB multicouches, nous présentons la modélisat...
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