Add to ORKGMéthodes actuelles des tests non déterministes de systèmes logiques. Méthode d'analyse du test aléatoire de circuits séquentiels. Etude du test aléatoire de circuits séquentiels intégrés (ssi, msi). Exemples d'influence des probabilités des entrées sur la largeur de la séquence de test
SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc
Cette thèse propose une extension des méthodes classiques de chemins de «scan». On utilise des opéra...
International audienceLans la première partie intitulée « Test des circuits intégrés numériques – No...
Méthodes actuelles des tests non déterministes de systèmes logiques. Méthode d'analyse du test aléat...
Ces travaux présentent une synthèse de mon activité de recherche et d'encadrement depuis mon intégra...
Synthèses sur le test aléatoire de mémoire RAM. Étude des problèmes liés à la détection des pannes. ...
Cette thèse concerne l'utilisation de modèles fonctionnels dans le test de circuits intégrés complex...
Dans ce mémoire 6 mesures sont formellement définies. Elles sont applicables à toute méthode de test...
Un test permet d'assurer la sécurité de fonctionnement des circuits VLSI. La première partie montre ...
L'objet de cette thèse est l'étude de deux méthodes de génération automatique de vecteurs de test po...
International audienceLe test des circuits intégrés n’est pas un domaine nouveau, mais il est en per...
Dans le domaine du test de circuits complexes, a la fin des annees 70 apparait le concept de test fo...
National audienceL'étude présentée dans ce papier est une analyse des capacités de détection de faut...
L'évolution croissante des technologies CMOS entraîne le renouvellement des techniques de prédiction...
Après avoir situé le problème du test des circuits intégrés, une méthode de test phasée sur une desc...
SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc
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