Add to ORKGAprès avoir situé le problème du test des circuits intégrés, une méthode de test phasée sur une description fonctionnelle du circuit est décrite. le système de test développé en collaboration avec ESD est présente ainsi qu'un outil de description de signaux
Universités : Université scientifique et médicale de Grenoble et Institut national polytechnique de ...
National audienceLes chaînes de scan rendent possible le test et le debug des circuits intégrés en o...
Dans le domaine du test de circuits complexes, a la fin des annees 70 apparait le concept de test fo...
Après avoir situé le problème du test des circuits intégrés, une méthode de test phasée sur une desc...
Un test permet d'assurer la sécurité de fonctionnement des circuits VLSI. La première partie montre ...
Dans ce mémoire 6 mesures sont formellement définies. Elles sont applicables à toute méthode de test...
International audienceLans la première partie intitulée « Test des circuits intégrés numériques – No...
Cette thèse concerne l'utilisation de modèles fonctionnels dans le test de circuits intégrés complex...
L'objet de cette thèse est l'étude de deux méthodes de génération automatique de vecteurs de test po...
Méthodes actuelles des tests non déterministes de systèmes logiques. Méthode d'analyse du test aléat...
La filière master à spécialité micro-nano électronique de l'université de Strasbourg propose un ense...
Présentation et discussion des développements vers diverses améliorations possibles du temps de déte...
International audienceLe test des circuits intégrés n’est pas un domaine nouveau, mais il est en per...
Les methodes de test de microprocesseurs sont passées en revue et les caractéristiques et l'environn...
National audienceCe papier présente une méthodologie de test de production des circuits RF ainsi que...
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