Add to ORKGCette thèse présente l'étude et la réalisation d'un système automatique et intégré d'analyse de défaillances de circuits VLSI par faisceau d'électrons. Le principe d'analyse consiste a comparer les images représentant en contraste de potentiel le fonctionnement interne du circuit défaillant a celles d'un circuit de référence. L'application de cette technique de test a des circuits dont la structure détaillée est inconnue, a nécessité le développement d'un outil automatique permettant d'extraire les différences de contraste sur la totalité du circuit. L'automatisation s'est heurtée aux problèmes d'alignement entre les images a comparer. Une technique de reconnaissance des formes, basée sur la détection des coins, a été mise en œuvre pour s'a...
L'objet de cette thèse est l'étude de deux méthodes de génération automatique de vecteurs de test po...
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Cette thèse présente l'étude et la réalisation d'un système automatique et intégré d'analyse de défa...
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Cette thèse concerne l'analyse de défaillances de circuits VLSI et plus particulièrement la localisa...
Cette thèse concerne l'analyse de défaillances de circuits VLSI et plus particulièrement la localisa...
Cette thèse concerne l'analyse de défaillances de circuits VLSI et plus particulièrement la localisa...
Cette thèse concerne l'analyse de défaillances de circuits VLSI et plus particulièrement la détectio...
Cette thèse concerne l'analyse de défaillances de circuits VLSI et plus particulièrement la détectio...
Cette thèse concerne l'analyse de défaillances de circuits VLSI et plus particulièrement la détectio...
L'accroissement de la densité d'intégration des circuits intégrés exige des moyens de contrôle d'une...
La généralisation des circuits intégrés et plus généralement de l'électronique à tous les secteurs d...
L'accroissement de la densité d'intégration des circuits intégrés exige des moyens de contrôle d'une...
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L'objet de cette thèse est l'étude de deux méthodes de génération automatique de vecteurs de test po...
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Cette thèse présente l'étude et la réalisation d'un système automatique et intégré d'analyse de défa...
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Cette thèse concerne l'analyse de défaillances de circuits VLSI et plus particulièrement la localisa...
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Cette thèse concerne l'analyse de défaillances de circuits VLSI et plus particulièrement la détectio...
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L'objet de cette thèse est l'étude de deux méthodes de génération automatique de vecteurs de test po...
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