Add to ORKGNational audienceL'étude présentée dans ce papier est une analyse des capacités de détection de fautes associées aux séquences de vecteurs adjacents (ou SIC pour Single Input Change) et non adjacents (ou MIC pour Multiple Input Change), dans le cadre du test intégré. Cette efficacité est exprimée en terme de couverture de fautes sur les modèles de collage, de court-circuit et de délai de chemin
La caractérisation de l'électromigration dans les lignes minces métalliques, détermine les principau...
Cette thèse concerne l'utilisation de modèles fonctionnels dans le test de circuits intégrés complex...
Cette thèse propose une extension des méthodes classiques de chemins de «scan». On utilise des opéra...
National audienceL'étude présentée dans ce papier est une analyse des capacités de détection de faut...
L'objet de cette thèse est l'étude de deux méthodes de génération automatique de vecteurs de test po...
International audienceLe test des circuits intégrés n’est pas un domaine nouveau, mais il est en per...
Dans ce mémoire 6 mesures sont formellement définies. Elles sont applicables à toute méthode de test...
Un test permet d'assurer la sécurité de fonctionnement des circuits VLSI. La première partie montre ...
Avec l'évolution de la densité d'intégration et la forte complexité des procédés de fabrication des ...
International audienceLans la première partie intitulée « Test des circuits intégrés numériques – No...
International audienceTest des circuits intégrés numériques - Notions de base e...
National audienceLes chaînes de scan rendent possible le test et le debug des circuits intégrés en o...
La filière master à spécialité micro-nano électronique de l'université de Strasbourg propose un ense...
Méthodes actuelles des tests non déterministes de systèmes logiques. Méthode d'analyse du test aléat...
La présente thèse traite du test des circuits imprimes nus en général et plus particulièrement de le...
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