Techniques de test pour les circuits et systèmes analogiques

The role of nano-electronic systems is rapidly expanding in every facet of modern life. Testing the analog, mixed-signal, and RF (AMS/RF) functions of such systems is considered one of the major bottlenecks and is an area of focus and innovation. Testing is required both in post-manufacturing to guarantee outgoing quality while not sacrificing yield and during the lifetime of operation to detect early reliability hazards and obtain feedback so as to apply corrective actions and continue uninterrupted operation. This talk will cover (a) applications of machine learning and data mining in testing aiming at implicitly predicting AMS/RF performances from low-cost measurements with high confidence; (b) integrated design-for-test and built-in self-test techniques for AMS/RF circuits aiming at reducing the cost of test, facilitating self-calibration and self-healing, and performing on-line test towards achieving fault tolerance; (c) probabilistic test metrics estimation (e.g. defect coverage and yield loss) aiming at evaluating alternative low-cost test solutions during the test development phase before moving to high-volume production; and (d) fault diagnosis for AMS/RF functions aiming at identifying the source of system failure down to transistor level and, thereby, providing feedback for yield enhancement and for avoiding failure reoccurrence. The concepts and methodologies will be demonstrated on industry data sets and on measurements from fabricated circuits.Les prévisions du debut des années 1970 sur le fait que le traitement analogique serait sur le declinen raison de l'avènement des ordinateurs numériques ne se sont jamais concrétisées. En fait, lesavantages de l'informatique numérique sont devenus un facteur important pour l'omniprésence descircuits analogiques. Les principales raisons sont (a) le rôle important des capteurs et des ac-tionneurs dans les systèmes modernes et la nécessité de créer leur interface avec le processeur designaux numériques; (b) le rôle important des communications sans fil où les circuits analogiquesforment l'interface de l'émetteur-récepteur avec l'extérieur; et (c) la nécessité d'améliorer la perfor-mance numérique, par exemple, la nécessite de remodeler par des moyens analogiques les impulsionsnumériques à haute vitesse qui sont déformées.De nos jours, la tendance est à l'intégration des circuits analogiques avec des circuits numériquessur le m^eme substrat de silicium. Lorsque cela est possible, il y a des avantages significatifs: lefacteur de forme du système et la consommation de puissance sont réduits pendant que la vitessede fonctionnement est augmentée. L'intégration à très grande échelle des circuits intégrés mixtesanalogique-numérique est désormais courante dans presque tous les domaines d'applications quiutilisent des puces électroniques. Ces applications comprennent les télécommunications, l'électroniquegrand public, les ordinateurs, le multimédia, l'automobile, l'avionique, l'instrumentation biomédicale,la robotique, etc