Wpływ krystalizacji na oporność elektryczną i strukturę amorficznych stopów Fe-Co-Cr-B-Si

The goal of this paper is to present the influence of temperature variation and iron substitution with Co on the structure and electrical properties of amorphous Fe75-xCoxCr1B7Si17 alloys (where x=1, 4, 7, and 10 at.%), obtained by melt-spinning technique. The electrical resistivity of the samples was measured by using a usual four-probe method from -160°C to 750°C. The electrical resistivity was also measured at room temperature for the amorphous Fe75-xCoxCr1B7Si17 ribbons annealed at various temperatures for different holding time. The annealed samples were also investigated by Vickers microhardness test. The amorphous structure of tested materials was examined by X-ray diffraction (XRD), Mőossbauer spectroscopy, differential scanning calorimetry (DSC) and scanning electron microscopy (SEM) methods. Experimental results confirmed the utility of applied investigation methods and the influence of the Co content and annealing process on the crystallization, structure and electrical properties of examined amorphous alloys.Celem niniejszego artykułu jest przedstawienie wpływu zmian temperatury i zastąpienia Fe przez Co na strukturę i właściwości elektryczne amorficznych stopów Fe75-xCoxCr1B7Si17 (gdzie x=1, 4, 7, 10 at.%) odlewanych na wirującym dysku. Oporność elektryczna próbek była mierzona metoda czteropunktowa w zakresie od -160°C to 750°C. Oporność elektryczna zmierzono także w temperaturze pokojowej dla amorficznych taśm Fe75-xCoxCr1B7Si17 wyżarzonych w różnych temperaturach dla różnych czasów. Wyżarzone próbki poddano również badaniom mikrotwardości Vickersa. Amorficzna strukturę badanych materiałów badano przy użyciu dyfrakcji rentgenowskiej (XRD), spektroskopii Mőossbauera, różnicowej kalorymetrii skaningowej (DSC) oraz skaningowej mikroskopii elektronowej (SEM). Wyniki eksperymentu potwierdziły przydatność zastosowanych metod badawczych oraz wpływ zawartości Co i wyżarzania na proces krystalizacji, strukturę i własciwości elektryczne badanych stopów amorficznych