Estudo de orientacoes cristalograficas de acos ao silicio utilizando tecnicas de difracao de raios X, difracao de eletrons e metodo ETCH PIT

SANTOS, HAMILTA de O.

Publication date

October 2014

Abstract

Made available in DSpace on 2014-10-09T12:43:57Z (GMT). No. of bitstreams: 0Made available in DSpace on 2014-10-09T14:08:19Z (GMT). No. of bitstreams: 1 06781.pdf: 5180316 bytes, checksum: 400f92bad2534a326e86a6f14c3ba5cb (MD5)Dissertacao (Mestrado)IPEN/DInstituto de Pesquisas Energeticas e Nucleares - IPEN/CNEN-S

Extracted data

We use cookies to provide a better user experience.

Data Protection

Estudo de orientacoes cristalograficas de acos ao silicio utilizando tecnicas de difracao de raios X, difracao de eletrons e metodo ETCH PIT

Abstract

Extracted data

Estudo de orientacoes cristalograficas de acos ao silicio utilizando tecnicas de difracao de raios X, difracao de eletrons e metodo ETCH PIT

Abstract

Extracted data

Related items

Related items