Avaliação dos tempos de teste de produtos eletrônicos

Made available in DSpace on 2015-04-22T22:10:46Z (GMT). No. of bitstreams: 1 leand.pdf: 1294573 bytes, checksum: d10eb21cbecb9685945b11331d660860 (MD5) Previous issue date: 2010-02-08The production line concept introduction by Henry Ford, brought a great enhancement in the resource usage efficiency and transformation during the industrial process. Afterwards Ohno (1988) presented that during the industrial process all the waste should be removed from the process. Ohno also explains that waste is any activity that do not aggregate value in the final product. As a production test do not aggregate value, it simply ensure the product reliability, this paper has the purpose to develop a methodology to evaluate, identify and reduce the longest tests time of an electronic test sequence without decrease the product quality. Based on the instrument driver s utilization is possible to identify opportunities points to be executed concurrently (parallelism). The execution of two or more tests in parallel make possible the time reduction of the whole product test. One baseline of times and results were created to act as a benchmark and based on statistical process control indexes such as result mean and standard deviation and also the test acceptance limits cpk index, it will be possible to confirm the methodology efficacy and efficiency. Besides the methodology, the paper also refers the analysis and automation tools that were created during the time optimization project.A introdução do conceito de linha de montagem por Henry Ford, trouxe um grande avanço à eficiência do uso dos recursos e transformações durante o processo fabril. Mais tarde com Ohno (1988), mostrou-se que durante o processo fabril, todo o desperdício deve ser removido do processo. Ohno ainda explica que desperdício é toda atividade que não agrega valor ao produto final. Como o teste de produção não agrega valor ao produto final, apenas garante a confiabilidade do mesmo, o presente trabalho tem como objetivo desenvolver uma metodologia para identificar e reduzir os tempos de testes mais demorados de uma sequência de testes de produtos eletrônicos sem que seja diminuída a qualidade dos produtos. Baseado na análise da utilização dos instrumentos dos testes é possível a identificação dos pontos candidatos a serem executados concorrentemente (paralelismo). A execução de dois ou mais testes em paralelo nas sequências torna possível a redução do tempo total de testes do produto. Um histórico dos tempos e resultados foi catalogado para através da utilização de índices estatísticos como a média e o desvio padrão dos resultados, juntamente com o índice Cpk dos limites dos testes, poder comprovar não só a eficiência, mas também a eficácia da metodologia. Além da metodologia, o trabalho também cita as ferramentas de análise e automação de redução de tempos de testes que foram desenvolvidas ao longo do projeto. A metodologia se mostrou eficaz e não apenas os tempos de testes foram reduzidos, mas, também, os resultados se mostraram igualmente confiáveis