Les variations de processus et les défauts physiques peuvent dégrader les performances d'un circuit, voire affecter considérablement son fonctionnement. Il est donc essentiel de vérifier les performances de chaque puce fabriquée afin de garantir la qualité des circuits envoyés aux clients. C'est le rôle du processus de test. Ce processus représente une part importante du coût total d'un circuit intégré, en particulier pour les circuits analogiques et RF dont les performances doivent être mesurées à l'aide d'un équipement de test sophistiqué et coûteux. Afin de réduire les coûts de test, une solution intéressante consiste à adopter une stratégie de test indirect, qui consiste à mesurer des paramètres ne nécessitant que des ressources de test...
Recent silicon technologies are especially prone to imperfections during the fabrication of the circ...
L'expansion du marché des semi-conducteurs dans tous les secteurs d'activité résulte de la capacité ...
Cette thèse concerne la réduction des coûts de test pour les circuits intégrés RF. L’approche origin...
Process variations and physical defects can degrade the performance of a circuit, or even drasticall...
Être en mesure de vérifier si un circuit intégré est fonctionnel après fabrication peut s'avérer trè...
Being able to check whether an IC is functional or not after the manufacturing process is very diffi...
Contrairement aux circuits numériques qui peuvent comporter plusieurs centaines de million de transi...
The conventional approach for testing RF circuits is specification-based testing, which involves ver...
International audienceThis paper is in the field of Analog or RF integrated circuit testing. The con...
International audienceThis paper aims at opening a discussion on the quality assessment of indirect ...
La part dû au test dans le coût de conception et de fabrication des circuits intégrés ne cesse de cr...
L'expansion du marché des semi-conducteurs dans tous les secteurs d'activité résulte de la capacité ...
La part dû au test dans le coût de conception et de fabrication des circuits intégrés ne cesse de cr...
The role of nano-electronic systems is rapidly expanding in every facet of modern life. Testing the ...
Testing mixed-signal circuits is a challenging task requiring high amounts of human and technical re...
Recent silicon technologies are especially prone to imperfections during the fabrication of the circ...
L'expansion du marché des semi-conducteurs dans tous les secteurs d'activité résulte de la capacité ...
Cette thèse concerne la réduction des coûts de test pour les circuits intégrés RF. L’approche origin...
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Contrairement aux circuits numériques qui peuvent comporter plusieurs centaines de million de transi...
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Cette thèse concerne la réduction des coûts de test pour les circuits intégrés RF. L’approche origin...