Methods of microcode optimization for embedded memory build-in self-test

Рассматриваются способы проектирования встроенной программируемой аппаратуры самотестирования оперативных запоминающих устройств, основанной на разрушающих маршевых тестах, а также методы оптимизации микрокода, кодирующего маршевые тесты, с целью его минимизации для сокращения аппаратурных затрат на память микропрограмм и увеличения скорости передачи тестов по последовательным интерфейсам.Methods of designing programmable build-in self-test architectures for embedded memories based on March tests are described. A new method of March test coding for programmable memory build-in self-test architectures allowing reducing hardware overheads and speed-up tests transferring over serial interfaces is offered