Estimation of iterative algorithm for transparent RAM testing

На каждой итерации исследуемого алгоритма неразрушающего тестирования оперативных запоминающих устройств (ОЗУ) инвертируются ячейки с адресами, выделенными по маске, которая формируется исходя из номера итерации алгоритма. Для сжатия тестовых реакций используется метод адаптивного сигнатурного анализа. В качестве целевых неисправностей определены многократные константные неисправности ОЗУ. Показано, что обнаруживающая способность повышается с увеличением итераций алгоритма. Определена формула вычисления верхней границы обнаруживающей способности и предельного количества итераций