Model of degradation process of failure development in electronic plastic cards

Рассмотрена возможность определения функции развития отказа таксофонных электронных карт с учетом развития деградационного процесса протекающего на этапе эксплуатации. Показано, что временная зависимость развития массовых отказов модулей для электронных пластиковых карт носит нормально-логарифмический характер. Модель является определяющей для выявления деградационных процессов, возникающих в процессе эксплуатации карт с использованием электронных модулей безопасности и определения характерных точек плотности распределения отказов, что облегчает задачу определения надежности чипкарт