In dieser Arbeit wird die elektronische Struktur von CuO mit der Methode der resonanten Röntgen-Raman-Streuung untersucht. Dabei werden sowohl die Besonderheiten dieses Übergangsmetalloxids herausgestellt, als auch das Potenzial der Methode aufgezeigt. Zunächst wird erläutert, wie sich durch die Messung von Kupfer-K-alpha Fluoreszenzspektren bei einer Anregungsenergie wenige eV unterhalb der Kupfer K-Kante Rückschlüsse über die unbesetzte Zustandsdichte von CuO und deren Symmetrie ziehen lassen. Dabei wird ausgenutzt, dass verschiedene Zwischenzustände des resonant unelastischen Streuprozesses durch die sogenannte Raman-Verschiebung voneinander getrennt werden können. Weiterhin sind die Beiträge von Zwischenzuständen verschiedener Symme...