Add to ORKGPrésentation et discussion des développements vers diverses améliorations possibles du temps de détection, obtenues par le biais de modification du circuit. Un test hors ligne peut être dérive directement par le regroupement de toutes les procédures de test
SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc
Dans ce mémoire 6 mesures sont formellement définies. Elles sont applicables à toute méthode de test...
Cette thèse se positionne dans le cadre de la modélisation, l'analyse et le test des systèmes commun...
Présentation et discussion des développements vers diverses améliorations possibles du temps de déte...
Les methodes de test de microprocesseurs sont passées en revue et les caractéristiques et l'environn...
Cette thèse traite de la vérification en ligne, par des moyens matériels, du flot de contrôle d'un s...
Cette thèse concerne l'utilisation de modèles fonctionnels dans le test de circuits intégrés complex...
Un test permet d'assurer la sécurité de fonctionnement des circuits VLSI. La première partie montre ...
Après avoir situé le problème du test des circuits intégrés, une méthode de test phasée sur une desc...
Étude pour des circuits VLSI sur substrat de silicium. Les modèles de pannes développés pour la tech...
International audienceLe test des circuits intégrés n’est pas un domaine nouveau, mais il est en per...
La présente thèse traite du test des circuits imprimes nus en général et plus particulièrement de le...
Synthèses sur le test aléatoire de mémoire RAM. Étude des problèmes liés à la détection des pannes. ...
SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc
Dans ce mémoire 6 mesures sont formellement définies. Elles sont applicables à toute méthode de test...
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