CONTRIBUTION AU DEVELOPPEMENT DE TECHNIQUES DE STIMULATION LASER DYNAMIQUE POUR LA LOCALISATION DE DEFAUTS DANS LES CIRCUITS VLSI

Développement et application d’une méthode d’analyse de défaillances fonctionnelles et contribution à l’amélioration de l’utilisation des techniques optiques statiques et dynamiques

Machouat, Aziz

December 2008

Avec l’évolution des technologies vers la haute intégration, il devient de plus en plus difficile de...

Contribution à l'évaluation de la technique de génération d'harmonique par faisceau laser pour la mesure des champs électriques dans les circuits intégrés (EFISHG)

FERNANDEZ, Thomas
LEWIS, Dean
POUGET, Vincent

January 2009

Ce travail contribue à l évaluation de la technique de génération de seconde harmonique induite par ...

Contribution au développement et à la mise en place de techniques avancées de localisation de défauts dans les circuits intégrés en milieu industriel

FIRITI, Abdellatif
LEWIS, Dean

January 2007

Cette thèse a été effectuée au laboratoire RCCAL de STMicroelectronics Rousset en collaboration avec...

Etude et localisation de défauts dans les circuits intégrés par stimulation photoélectrique laser

BEAUCHENE, Thomas
FOUILLAT, Pascal
LEWIS, Dean

January 2004

Ce travail se situe dans le contexte général du développement de nouvelles techniques de test sans c...

Méthodologie de localisation des défauts soft dans les circuits intégrés mixtes et analogiques par stimulation par faisceau laser : analyse de résultats des techniques dynamiques paramétriques

Sienkiewicz, Magdalena

May 2010

Cette thèse s’inscrit dans le domaine de la localisation de défauts de type «soft» dans les Circuits...

Méthodologie de localisation des défauts soft dans les circuits intégrés mixtes et analogiques par stimulation par faisceau laser (analyse de résultats des techniques dynamiques paramétriques)

SIENKIEWICZ, Magdalena
LEWIS, Dean

January 2010

Cette thèse s inscrit dans le domaine de la localisation de défauts de type soft dans les Circuits I...

Développement et application de techniques d'analyse par stimulation dynamique laser pour la localisation de défauts et de diagnostic de circuits intégrés

SANCHEZ, Kevin
LEWIS, Dean

January 2007

L utilisation croissante de la microélectronique et ses évolutions technologiques permanentes renden...

DEVELOPPEMENT ET APPLICATIONS DE TECHNIQUES LASER IMPULSIONNELLES POUR L'ANALYSE DE DEFAILLANCE DES CIRCUITS INTEGRES

Faraud, Emeric

December 2012

The fault location based on laser stimulation are now among the most advanced available techniques. ...

METHODOLOGIE DE LOCALISATION DES DEFAUTS SOFT DANS LES CIRCUITS INTEGRES MIXTES ET ANALOGIQUES PAR STIMULATION PAR FAISCEAU LASER : ANALYSE DE RESULTATS DES TECHNIQUES DYNAMIQUES PARAMETRIQUES

Sienkiewicz, Magdalena

May 2010

Various electrical parameters are studied when acquired during a laser scan, in order to improve the...

Développement et applications de techniques laser impulsionnelles pour l'analyse de défaillance des circuits intégrés

FARAUD, Emeric

December 2020

Les techniques de localisation de défauts basées sur la stimulation laser restent aujourd'hui les te...

Contribution à la modélisation et au développement de techniques de test et d'analyse dynamiques de circuits intégrés par faisceau laser pulsé

DOUIN, Alexandre
FOUILLAT, Pascal

January 2008

Ce travail présente le développement de techniques de test et d analyse optiques dynamiques des circ...

Contribution au développement de techniques de stimulation laser dynamique pour la localisation de défauts dans les circuits VLSI

DEYINE, Amjad
LEWIS, Dean
PERDU, Philippe

January 2011

L objectif principal du projet est d étudier les techniques d analyses de défaillances des circuits ...

Detection et localisation de defauts dans les circuits integres logiques par test sous faisceau laser

Simonin, Bertrand

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Dynamische Analysen von testerbetriebenen Integrierten Schaltkreisen stimuliert durch Infrarot Laser

Kiyan, Tuba

May 2010

Laser Stimulationstechniken benutzen Laserstrahlung, um die elektrischen Eigenschaften von integrier...

Dynamic Testing of an SRAM-Based FPGA by Time-Resolved Laser Fault Injection

Pouget, V.
Douin, A.
Foucard, G.
Peronnard, P.
Lewis, D.
Fouillat, P.
Velazco, Raoul

July 2008

International audienceThis paper presents principles and results of dynamic testing of an SRAM-based...

Développement et application d’une méthode d’analyse de défaillances fonctionnelles et contribution à l’amélioration de l’utilisation des techniques optiques statiques et dynamiques

Machouat, Aziz

December 2008

Avec l’évolution des technologies vers la haute intégration, il devient de plus en plus difficile de...

Contribution à l'évaluation de la technique de génération d'harmonique par faisceau laser pour la mesure des champs électriques dans les circuits intégrés (EFISHG)

FERNANDEZ, Thomas
LEWIS, Dean
POUGET, Vincent

January 2009

Ce travail contribue à l évaluation de la technique de génération de seconde harmonique induite par ...

Contribution au développement et à la mise en place de techniques avancées de localisation de défauts dans les circuits intégrés en milieu industriel

FIRITI, Abdellatif
LEWIS, Dean

January 2007

Cette thèse a été effectuée au laboratoire RCCAL de STMicroelectronics Rousset en collaboration avec...

Etude et localisation de défauts dans les circuits intégrés par stimulation photoélectrique laser

BEAUCHENE, Thomas
FOUILLAT, Pascal
LEWIS, Dean

January 2004

Ce travail se situe dans le contexte général du développement de nouvelles techniques de test sans c...

Méthodologie de localisation des défauts soft dans les circuits intégrés mixtes et analogiques par stimulation par faisceau laser : analyse de résultats des techniques dynamiques paramétriques

Sienkiewicz, Magdalena

May 2010

Cette thèse s’inscrit dans le domaine de la localisation de défauts de type «soft» dans les Circuits...

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SIENKIEWICZ, Magdalena
LEWIS, Dean

January 2010

Cette thèse s inscrit dans le domaine de la localisation de défauts de type soft dans les Circuits I...

Développement et application de techniques d'analyse par stimulation dynamique laser pour la localisation de défauts et de diagnostic de circuits intégrés

SANCHEZ, Kevin
LEWIS, Dean

January 2007

L utilisation croissante de la microélectronique et ses évolutions technologiques permanentes renden...

DEVELOPPEMENT ET APPLICATIONS DE TECHNIQUES LASER IMPULSIONNELLES POUR L'ANALYSE DE DEFAILLANCE DES CIRCUITS INTEGRES

Faraud, Emeric

December 2012

The fault location based on laser stimulation are now among the most advanced available techniques. ...

METHODOLOGIE DE LOCALISATION DES DEFAUTS SOFT DANS LES CIRCUITS INTEGRES MIXTES ET ANALOGIQUES PAR STIMULATION PAR FAISCEAU LASER : ANALYSE DE RESULTATS DES TECHNIQUES DYNAMIQUES PARAMETRIQUES

Sienkiewicz, Magdalena

May 2010

Various electrical parameters are studied when acquired during a laser scan, in order to improve the...

Développement et applications de techniques laser impulsionnelles pour l'analyse de défaillance des circuits intégrés

FARAUD, Emeric

December 2020

Les techniques de localisation de défauts basées sur la stimulation laser restent aujourd'hui les te...

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DOUIN, Alexandre
FOUILLAT, Pascal

January 2008

Ce travail présente le développement de techniques de test et d analyse optiques dynamiques des circ...

Contribution au développement de techniques de stimulation laser dynamique pour la localisation de défauts dans les circuits VLSI

DEYINE, Amjad
LEWIS, Dean
PERDU, Philippe

January 2011

L objectif principal du projet est d étudier les techniques d analyses de défaillances des circuits ...

Detection et localisation de defauts dans les circuits integres logiques par test sous faisceau laser

Simonin, Bertrand

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

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Kiyan, Tuba

May 2010

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Pouget, V.
Douin, A.
Foucard, G.
Peronnard, P.
Lewis, D.
Fouillat, P.
Velazco, Raoul

July 2008

International audienceThis paper presents principles and results of dynamic testing of an SRAM-based...

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Machouat, Aziz

December 2008

Avec l’évolution des technologies vers la haute intégration, il devient de plus en plus difficile de...

Contribution à l'évaluation de la technique de génération d'harmonique par faisceau laser pour la mesure des champs électriques dans les circuits intégrés (EFISHG)

FERNANDEZ, Thomas
LEWIS, Dean
POUGET, Vincent

January 2009

Ce travail contribue à l évaluation de la technique de génération de seconde harmonique induite par ...

Contribution au développement et à la mise en place de techniques avancées de localisation de défauts dans les circuits intégrés en milieu industriel

FIRITI, Abdellatif
LEWIS, Dean

January 2007

Cette thèse a été effectuée au laboratoire RCCAL de STMicroelectronics Rousset en collaboration avec...

CONTRIBUTION AU DEVELOPPEMENT DE TECHNIQUES DE STIMULATION LASER DYNAMIQUE POUR LA LOCALISATION DE DEFAUTS DANS LES CIRCUITS VLSI

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