Integrated system for automated characterization of analog-digital converters

Este trabalho descreve um sistema constituído de diversos instrumentos, que se encontram interligados e gerenciados por um aplicativo de software, implementando um ambiente compacto para a caracterização de conversores analógico-digitais, de acordo com os procedimentos descritos nas normas IEEE 1057-1994 e IEEE 1241-2000. O sistema desenvolvido possui limitações quanto aos tipos de conversores analógico-digitais que podem ser testados, devidas às restrições impostas pelos equipamentos disponíveis neste momento. Sua estrutura, no entanto, foi concebida para permitir a expansão destes limites com a troca dos instrumentos limitantes à medida que estes forem adquiridos. A avaliação da sua funcionalidade foi realizada testando dois conversores analógico-digitais que têm características distintas. Enquanto um dos dispositivos testados tem resolução nominal de 10 bits e taxa de conversão de 80 MSPS, o outro tem resolução de 8 bits e taxa de conversão nominal de 8kSPS. A motivação para o desenvolvimento deste sistema está no projeto de conversores analógico-digitais integrados que se encontra em andamento no LPM-FEEC-Unicamp. A disponibilidade de um ambiente de teste com as propriedades do sistema desenvolvido é um requisito importante para o sucesso do projeto, pois viabiliza a verificação imediata dos circuitos construídos, reduzindo o tempo de convergência às metas do projetoThis paper describes a system composed of various instruments, which are interconnected and managed by a software application, implementing a compact environment for characterization of analog-digital converters, according to the procedures described in IEEE 1057-1994 and IEEE 1241 -2000. The developed system has limitations on the kinds of analog-digital converters that can be tested due to restrictions imposed by the equipment available at the moment. Its structure, however, was designed to allow the expansion of these limits with the exchange of the limiting instruments as they are acquired. The evaluation of its functionality was performed by testing two analog-digital converters that have distinct characteristics. While one of the tested devices has nominal resolution of 10 bits and conversion rate of 80 MSPS, the other has 8-bit resolution and conversion rate four orders of magnitude below. The motivation for developing this system is the design of integrated analog-digital converters that is being carried on at the LPM-FEEC-Unicamp. The availability of a test environment with the properties of the developed system is an important requisite for the success of the project because it enables the immediate verification of the constructed circuits, thus reducing the convergence time to the project goal