Tecnicas de microscopia de tunelamento de eletrons (MTE) e microscopia de força atomica (MFA) aplicadas ao estudo desuperficies de grafite e diamante

As técnicas de Microscopia de Tunelamento de Elétrons (MTE) e Microscopia de Força Atômica (MFA) são extremamente poderosas para a análise morfológica de superfícies, indo da escala micrométrica a escala atômica. Nesta tese fazemos uma revisão teórica de seus princípios com o objeto de esclarecer as análises posteriores. Foram realizadas imagens de Grafite Pirolítico Altamente Orientado (HOPG) á nível atômico por MTE e MFA, a fim de: exarcebar as diferenças fundamentais entre a MTE e MFA; utilizar o grafite HOPG como uma amostra de escala atômica "padrão"; otimização dos parâmetros - como corrente, tensão, fôrça, velocidade de varredura, etc. - a fim de otimizarmos as técnicas com uma amostra conhecida, proporcionando então, uma referência para posteriores trabalhos com grafites intercalados, grafites naturais, e outros. Empregamos a MFA também na análise de filmes de diamante crescidos pelo processo de deposição química a partir da fase vapor, cujos resultados propiciaram imagens atômicas de sua superfícieNot informe