REFLECTOMETRIA ÓPTICA DE BAIXA COERÊNCIA

Reflectometria óptica de baixa coerência tem se tornado uma importante ferramenta para a caracterização de componentes ópticos e optoeletrônicos integrados, cujas dimensões são micrométricos. Este trabalho inclui os princípios básicos de reflectometria, um estudo aprofundado de reflectometria óptica de baixa coerência, uma revisão das técnicas demonstradas na literatura cientifíca e suas resoluções e, principalmente, uma nova topologia na montagem experimental. Esta nova topologia permite que as mediadas sejam feitas de maneira mais simples e eficaz. A resolução obtida ficou tão boa que permitiu a visualização dos modos de propagação TE E TM na cavidade de um laser semicondutor.Optical low Coherence Reflectometry has become an important tool for the characterization of optical and integrated optoeletronics components of dimensions on the micrometer scale. This work includes the basic principles of reflectometry, a detailed study of optical low coherence reflectometry, a review of the techniques reported in the literature and a new scheme for the experimental set-up. This new scheme has proved to be simpler and more efficient. In addition the high resolution achieved allowed the visual observation of the TE and TM propagation modes in the semiconductior cavity