Variation du travail d’extraction thermoélectronique de semiconducteurs pulvérulents soumis à l’action d’un rayonnement électromagnétique

l'ndispositif permettant de mesurer les variations du travail extraction thermoélectronique d’oxydes semiconducteurs Avirulents, dans des conditions expérimentales bien définies, à été construit en vue de permettre une irradiation des échantillon de TiO2 sous vide exempt des vapeurs d’hydrocarbures, ou en atmosphère contrôlée. La méthode de mesure du travail d'extraction utilisée est celle de Kelvin-Zismann, avec une électrode de référence en or. Il a été vérifié que cette dernière restait stable sous irradiation, dans l’oxygène et dans l’isobutane, à température ambiante. La précision des mesures est de quelques millivolts et la reproductibilité d’une trentaine de millivolts