Contribution a l'etude des circuits VLSI bipolaires: 1) caracterisation et evaluation des technologies de type ECL; 2) rechercher d'optimisation des operateurs CML

Contribution à l'intégration de la fiabilité dans le flot de conception des circuits intégrés fondée sur l'utilisation d'un langage de description comportementale VHDL-AMS

MONGELLAZ, Benoît
DANTO, Yves

January 2004

L'évolution croissante des technologies CMOS entraîne le renouvellement des techniques de prédiction...

Contribution a l'etude des phenomenes limitant la fiabilite des lignes conductrices en aluminium des circuits VLSI : roles de l'electromigration et des contraintes d'origine thermique

Bacconnier, Bruno
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 69 - Villeurbanne (France)

January 1989

SIGLECNRS T 65334 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude du phenomene de latchup dans les technologies CMOS

Leroux, Charles
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 69 - Villeurbanne (France)

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'analyse automatique de circuits integres VLSI

Villemon, Marc

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la comparaison des performances des technologies Si et GaAs pour les circuits logiques

Bensaad, Zouaoui

January 1990

SIGLEINIST T 77670 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution au developpement d'une methode de conception optimisee d'operateurs logiques VLSI: application a la technologie STL

Belgnaoui, Ibrahim

January 1990

SIGLEINIST T 72982 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude et l'optimisation de structures de conversion specifiques a la technologie CMOS

Masmoudi, Mohamed

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a des outils de conception de circuits integres

Guilbert, Laurent

January 1990

SIGLEINIST T 73459 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'analyse et a la conception optimale des circuits non lineaires microondes

Correa De Albuquerque, Marcos

January 1986

SIGLECNRS T 59294 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude du systeme emetteur-base d'un transistor bipolaire autoaligne dans le cadre d'une technologie VLSI biCMOS

Giroult-Matlakowski, Gaeelle
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 31 - Toulouse (France)

January 1990

SIGLEINIST T 75789 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude des conditions d'ecoulement dans le circuit de refroidissement d'un moteur electrique de type ouvert

Baudoin, Bernard

January 1987

SIGLECNRS TD Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'analyse et a la conception optimale des circuits non-lineaires microondes

De Albuquerque, MarcosC.

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution au test autonome des circuits V.L.S.I. : un microprocesseur a test aleatoire integre

Thorel, Pierre
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la caracterisation et modelisation de transistors a effet de champ pour la conception des circuits integres monolithiques microondes

Montoriol, Gilles

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Optimisation d'une technologie autoalignee pour le transistor bipolaire a heterojonction GaAs/GaAlAs

Collumeau, Jean-Michel

January 1990

SIGLEINIST T 73140 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution à l'intégration de la fiabilité dans le flot de conception des circuits intégrés fondée sur l'utilisation d'un langage de description comportementale VHDL-AMS

MONGELLAZ, Benoît
DANTO, Yves

January 2004

L'évolution croissante des technologies CMOS entraîne le renouvellement des techniques de prédiction...

Contribution a l'etude des phenomenes limitant la fiabilite des lignes conductrices en aluminium des circuits VLSI : roles de l'electromigration et des contraintes d'origine thermique

Bacconnier, Bruno
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 69 - Villeurbanne (France)

January 1989

SIGLECNRS T 65334 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude du phenomene de latchup dans les technologies CMOS

Leroux, Charles
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 69 - Villeurbanne (France)

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'analyse automatique de circuits integres VLSI

Villemon, Marc

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la comparaison des performances des technologies Si et GaAs pour les circuits logiques

Bensaad, Zouaoui

January 1990

SIGLEINIST T 77670 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution au developpement d'une methode de conception optimisee d'operateurs logiques VLSI: application a la technologie STL

Belgnaoui, Ibrahim

January 1990

SIGLEINIST T 72982 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude et l'optimisation de structures de conversion specifiques a la technologie CMOS

Masmoudi, Mohamed

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a des outils de conception de circuits integres

Guilbert, Laurent

January 1990

SIGLEINIST T 73459 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'analyse et a la conception optimale des circuits non lineaires microondes

Correa De Albuquerque, Marcos

January 1986

SIGLECNRS T 59294 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude du systeme emetteur-base d'un transistor bipolaire autoaligne dans le cadre d'une technologie VLSI biCMOS

Giroult-Matlakowski, Gaeelle
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 31 - Toulouse (France)

January 1990

SIGLEINIST T 75789 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude des conditions d'ecoulement dans le circuit de refroidissement d'un moteur electrique de type ouvert

Baudoin, Bernard

January 1987

SIGLECNRS TD Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'analyse et a la conception optimale des circuits non-lineaires microondes

De Albuquerque, MarcosC.

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution au test autonome des circuits V.L.S.I. : un microprocesseur a test aleatoire integre

Thorel, Pierre
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la caracterisation et modelisation de transistors a effet de champ pour la conception des circuits integres monolithiques microondes

Montoriol, Gilles

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Optimisation d'une technologie autoalignee pour le transistor bipolaire a heterojonction GaAs/GaAlAs

Collumeau, Jean-Michel

January 1990

SIGLEINIST T 73140 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution à l'intégration de la fiabilité dans le flot de conception des circuits intégrés fondée sur l'utilisation d'un langage de description comportementale VHDL-AMS

MONGELLAZ, Benoît
DANTO, Yves

January 2004

L'évolution croissante des technologies CMOS entraîne le renouvellement des techniques de prédiction...

Contribution a l'etude des phenomenes limitant la fiabilite des lignes conductrices en aluminium des circuits VLSI : roles de l'electromigration et des contraintes d'origine thermique

Bacconnier, Bruno
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 69 - Villeurbanne (France)

January 1989

SIGLECNRS T 65334 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude du phenomene de latchup dans les technologies CMOS

Leroux, Charles
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 69 - Villeurbanne (France)

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude des circuits VLSI bipolaires: 1) caracterisation et evaluation des technologies de type ECL; 2) rechercher d'optimisation des operateurs CML

Abstract

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