Conception et test de circuits integres personnalises

Un circuit integre de generation et analyse de vecteurs pour le test de cartes a microprocesseur

Borrione, D.
Ronald, E
Humbert, M.
Caubet, B.
Courtois, B.
Guyot, A.
Centre National de la Recherche Scientifique, LA 7, Laboratoire d'Informatique et de Mathematiques Appliquees de Grenoble Grenoble (FRANCE)
Universite de Grenoble 1, Institut National Polytechnique de Grenoble Grenoble (FRANCE)

January 1982

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Tester les circuits integres : la microscopie electronique a balayage au CNS

Fournier, J.M.
Rivoire, P.
Vernay, Y.J.
Centre National d'Etudes des Telecommunications (CNET), 38 - Meylan (France). Div. Conception des Circuits Integres

January 1986

SIGLECNRS RP 253 (50) / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Generation de test de circuits integres fondee sur des modeles fonctionnels

Karam, Margot
Crastes, Michel
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79502 / INIST-CNRS -...

Mesure de marches sur circuits integres

Ecole Nationale Superieure des Techniques Avancees, 91 - Palaiseau (France). Lab. d'Optique Appliquee
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)

January 1982

SIGLECNRS AR 11233 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Circuits imprimes : approche d'une technologie seche

Arese, J.
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Radiotechnique Compelec (RTC), 27 - Evreux (France)
Limoges Univ., 87 (France). Lab. de Physique Ionique

January 1987

SIGLECNRS AR 12039 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude et conception des circuits de test en technologie bipolaire GaAs

Kazeminejad, Abdol Amir

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Circuits integres digitaux: outils de conception, test integre

Dufaza, Christian

January 1989

SIGLEINIST T 73129 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Conception de circuits imprimes: vers un compilateur cuivre

Bureau, Denis

January 1989

SIGLEINIST T 76931 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Test des circuits integres VLSI

Verdillon, A.
Informatique et Mathematiques Appliquees de Grenoble (IMAG), 38 - Saint-Martin-d'Heres (France). Lab. de Genie Informatique de Grenoble (LGIG)

January 1988

SIGLECNRS 17660 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Conception temporellement sure de circuits integres complexes

Amblard, Paul
Institut National Polytechnique de Grenoble, 38 - Saint-Martin-d'Heres (France)

January 1984

T 56174 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Techniques de caracterisation et de conception de circuits integres au silicium

Buxo, Jean
Bafleur, M.
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 31 - Toulouse (France). Lab. d'Automatique et d'Analyse des Systemes

January 1987

SIGLECNRS AR 12677 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a des outils de conception de circuits integres

Guilbert, Laurent

January 1990

SIGLEINIST T 73459 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Conception fonctionnelle de circuits integres de traitement d'image

Palmier, Luc

January 1985

SIGLECNRS T 57690 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Une methode de mise au point des circuits integres

Kara-Terki, Chafik

January 1986

SIGLECNRS TD 15335 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Generation fonctionnelle du test de circuits a haute densite d'integration

Bianchi, Christophe
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 69 - Villeurbanne (France)

January 1990

SIGLEINIST T 72950 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Un circuit integre de generation et analyse de vecteurs pour le test de cartes a microprocesseur

Borrione, D.
Ronald, E
Humbert, M.
Caubet, B.
Courtois, B.
Guyot, A.
Centre National de la Recherche Scientifique, LA 7, Laboratoire d'Informatique et de Mathematiques Appliquees de Grenoble Grenoble (FRANCE)
Universite de Grenoble 1, Institut National Polytechnique de Grenoble Grenoble (FRANCE)

January 1982

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Tester les circuits integres : la microscopie electronique a balayage au CNS

Fournier, J.M.
Rivoire, P.
Vernay, Y.J.
Centre National d'Etudes des Telecommunications (CNET), 38 - Meylan (France). Div. Conception des Circuits Integres

January 1986

SIGLECNRS RP 253 (50) / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Generation de test de circuits integres fondee sur des modeles fonctionnels

Karam, Margot
Crastes, Michel
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79502 / INIST-CNRS -...

Mesure de marches sur circuits integres

Ecole Nationale Superieure des Techniques Avancees, 91 - Palaiseau (France). Lab. d'Optique Appliquee
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)

January 1982

SIGLECNRS AR 11233 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Circuits imprimes : approche d'une technologie seche

Arese, J.
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Radiotechnique Compelec (RTC), 27 - Evreux (France)
Limoges Univ., 87 (France). Lab. de Physique Ionique

January 1987

SIGLECNRS AR 12039 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude et conception des circuits de test en technologie bipolaire GaAs

Kazeminejad, Abdol Amir

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Circuits integres digitaux: outils de conception, test integre

Dufaza, Christian

January 1989

SIGLEINIST T 73129 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Conception de circuits imprimes: vers un compilateur cuivre

Bureau, Denis

January 1989

SIGLEINIST T 76931 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Test des circuits integres VLSI

Verdillon, A.
Informatique et Mathematiques Appliquees de Grenoble (IMAG), 38 - Saint-Martin-d'Heres (France). Lab. de Genie Informatique de Grenoble (LGIG)

January 1988

SIGLECNRS 17660 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Conception temporellement sure de circuits integres complexes

Amblard, Paul
Institut National Polytechnique de Grenoble, 38 - Saint-Martin-d'Heres (France)

January 1984

T 56174 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Techniques de caracterisation et de conception de circuits integres au silicium

Buxo, Jean
Bafleur, M.
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 31 - Toulouse (France). Lab. d'Automatique et d'Analyse des Systemes

January 1987

SIGLECNRS AR 12677 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a des outils de conception de circuits integres

Guilbert, Laurent

January 1990

SIGLEINIST T 73459 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Conception fonctionnelle de circuits integres de traitement d'image

Palmier, Luc

January 1985

SIGLECNRS T 57690 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Une methode de mise au point des circuits integres

Kara-Terki, Chafik

January 1986

SIGLECNRS TD 15335 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Generation fonctionnelle du test de circuits a haute densite d'integration

Bianchi, Christophe
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 69 - Villeurbanne (France)

January 1990

SIGLEINIST T 72950 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Un circuit integre de generation et analyse de vecteurs pour le test de cartes a microprocesseur

Borrione, D.
Ronald, E
Humbert, M.
Caubet, B.
Courtois, B.
Guyot, A.
Centre National de la Recherche Scientifique, LA 7, Laboratoire d'Informatique et de Mathematiques Appliquees de Grenoble Grenoble (FRANCE)
Universite de Grenoble 1, Institut National Polytechnique de Grenoble Grenoble (FRANCE)

January 1982

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Tester les circuits integres : la microscopie electronique a balayage au CNS

Fournier, J.M.
Rivoire, P.
Vernay, Y.J.
Centre National d'Etudes des Telecommunications (CNET), 38 - Meylan (France). Div. Conception des Circuits Integres

January 1986

SIGLECNRS RP 253 (50) / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Generation de test de circuits integres fondee sur des modeles fonctionnels

Karam, Margot
Crastes, Michel
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79502 / INIST-CNRS -...

Conception et test de circuits integres personnalises

Abstract

Extracted data

Topics

Conception et test de circuits integres personnalises

Abstract

Extracted data

Topics

Related items

Related items