Etude des sensibilites pour les circuits lineaires microondes par la methode du reseau adjoint

Tester les circuits integres : la microscopie electronique a balayage au CNS

Fournier, J.M.
Rivoire, P.
Vernay, Y.J.
Centre National d'Etudes des Telecommunications (CNET), 38 - Meylan (France). Div. Conception des Circuits Integres

January 1986

SIGLECNRS RP 253 (50) / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution au test autonome des circuits V.L.S.I. : un microprocesseur a test aleatoire integre

Thorel, Pierre
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude et realisation d'applicateurs micro-ondes destines au sechage de materiaux en plaques minces

Mahdjoub, Zoubir

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'analyse et a la conception optimale des circuits non-lineaires microondes

De Albuquerque, MarcosC.

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'analyse et a la conception optimale des circuits non lineaires microondes

Correa De Albuquerque, Marcos

January 1986

SIGLECNRS T 59294 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Methode des elements de frontiere appliquee a l'etude de circuits microrubans et aux lentilles electromagnetiques planes

Medhous, Mustapha

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la creation d'outils de CAO des circuits non-lineaires microondes

Ngoya, Edouard

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'analyse de la stabilite des circuits non-lineaires. Application a la C.A. de dispositifs microondes

Quere, Raymond

January 1989

SIGLEINIST T 70926 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Mise au point de circuits integres par microscopie electronique

Courtois, B
Centre National de la Recherche Scientifique, LA 7, Laboratoire d'Informatique et de Mathematiques Appliques de Grenoble, Computer Architecture Group Grenoble (FRANCE)
Universite de Grenoble I, Institut National Polytechnique de Grenoble Grenoble (FRANCE)

January 1982

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

La methode du recuit simule : application a la conception de circuits electroniques

Siarry, Patrick

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse des circuits integres par microscopie electronique en transmission : controle de qualite, evaluation de la fiabilite

Duzellier, Sophie

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude de la controlabilite des circuits integres par faisceaux d'electrons

Micollet, Dominique
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude et conception des circuits de test en technologie bipolaire GaAs

Kazeminejad, Abdol Amir

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse de defaillances de circuits integres par microscopie electronique: premieres experimentations

Bergher, Laurent
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 38 - Saint-Martin-d'Heres (France). Informatique et Mathematiques Appliquees de Grenoble
Grenoble-1 Univ., 38 (France)
Institut National Polytechnique de Grenoble, 38 (France)

January 1984

SIGLECNRS RS 17660 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Effets de propagation et de couplage dans les circuits integres logiques AsGa DCFL

Bedouani, Mohamed

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Tester les circuits integres : la microscopie electronique a balayage au CNS

Fournier, J.M.
Rivoire, P.
Vernay, Y.J.
Centre National d'Etudes des Telecommunications (CNET), 38 - Meylan (France). Div. Conception des Circuits Integres

January 1986

SIGLECNRS RP 253 (50) / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution au test autonome des circuits V.L.S.I. : un microprocesseur a test aleatoire integre

Thorel, Pierre
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude et realisation d'applicateurs micro-ondes destines au sechage de materiaux en plaques minces

Mahdjoub, Zoubir

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'analyse et a la conception optimale des circuits non-lineaires microondes

De Albuquerque, MarcosC.

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'analyse et a la conception optimale des circuits non lineaires microondes

Correa De Albuquerque, Marcos

January 1986

SIGLECNRS T 59294 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Methode des elements de frontiere appliquee a l'etude de circuits microrubans et aux lentilles electromagnetiques planes

Medhous, Mustapha

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la creation d'outils de CAO des circuits non-lineaires microondes

Ngoya, Edouard

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'analyse de la stabilite des circuits non-lineaires. Application a la C.A. de dispositifs microondes

Quere, Raymond

January 1989

SIGLEINIST T 70926 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Mise au point de circuits integres par microscopie electronique

Courtois, B
Centre National de la Recherche Scientifique, LA 7, Laboratoire d'Informatique et de Mathematiques Appliques de Grenoble, Computer Architecture Group Grenoble (FRANCE)
Universite de Grenoble I, Institut National Polytechnique de Grenoble Grenoble (FRANCE)

January 1982

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

La methode du recuit simule : application a la conception de circuits electroniques

Siarry, Patrick

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse des circuits integres par microscopie electronique en transmission : controle de qualite, evaluation de la fiabilite

Duzellier, Sophie

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude de la controlabilite des circuits integres par faisceaux d'electrons

Micollet, Dominique
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude et conception des circuits de test en technologie bipolaire GaAs

Kazeminejad, Abdol Amir

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse de defaillances de circuits integres par microscopie electronique: premieres experimentations

Bergher, Laurent
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 38 - Saint-Martin-d'Heres (France). Informatique et Mathematiques Appliquees de Grenoble
Grenoble-1 Univ., 38 (France)
Institut National Polytechnique de Grenoble, 38 (France)

January 1984

SIGLECNRS RS 17660 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Effets de propagation et de couplage dans les circuits integres logiques AsGa DCFL

Bedouani, Mohamed

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Tester les circuits integres : la microscopie electronique a balayage au CNS

Fournier, J.M.
Rivoire, P.
Vernay, Y.J.
Centre National d'Etudes des Telecommunications (CNET), 38 - Meylan (France). Div. Conception des Circuits Integres

January 1986

SIGLECNRS RP 253 (50) / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution au test autonome des circuits V.L.S.I. : un microprocesseur a test aleatoire integre

Thorel, Pierre
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude et realisation d'applicateurs micro-ondes destines au sechage de materiaux en plaques minces

Mahdjoub, Zoubir

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude des sensibilites pour les circuits lineaires microondes par la methode du reseau adjoint

Abstract

Extracted data

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