Spectroscopies des electrons Auger et des pertes d'energie et structures fines associees. Application aux interfaces Co-Si et Fe-Si

Caracterisation d'oxynitrures de silicium par spectroscopie des electrons Auger associee a la pulverisation ionique

Segaud, Jean-Pierre

January 1988

SIGLECNRS TD Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude electronique et physico-chimique des premiers stades de la formation des interfaces GaSb-metal

Doukkali, Mohamed-Aziz

January 1990

SIGLEINIST T 75824 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Spectrometrie d'electrons et analyse quantitative des surfaces. Application a l'XPS. Cas des Nickel-Chrome

Noille-Repoux, Monique
Ecole Nationale Superieure des Mines, 75 - Paris (France)

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 80493 / INIST-CNRS ...

Etude par spectroscopies d'electrons Auger et de pertes d'energie des semi-conducteurs InP(100) et InSb(100)

Bouslama, M'Hammed

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Structures fines des pertes d'energie et des electrons Auger : determination de l'ordre local de l'interface Co/Si (111)

Chainet, Eric

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Spectroscopie des etats electroniques a l'interface InP-sulfure

Klopfenstein, Patrick

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Spectroscopie des etats electroniques a l'interface InP-Nitrures

Astito, Abdelali

January 1990

SIGLEINIST T 75775 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Detection et analyse des rayons X par spectroscopie d'electrons (applications aux techniques de microanalyse en volume et en surface et aux structures fines de l'absorption X)

Cazaux, Jacques
DGRST Paris (FRANCE)
Universite de Reims, Laboratoire de Spectroscopie des Electrons Reims (FRANCE)

January 1982

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude des surfaces et interfaces metal-semiconducteur (Ag/Si; Au/Si) par spectroscopie de pertes d'energies d'electrons lents a haute resolution

Contini, Rino

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Spectrometrie auger sous bombardement simultane d'ions et d'electrons

Benazeth, Nicole
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 31 - Toulouse (France). Lab. de Physique des Solides.
Toulouse-3 Univ., 31 (France). Lab. de Physique des Solides
Institut National des Sciences Appliquees de Toulouse (INSA), 31 (France). Lab. de Physique des Solides

January 1985

SIGLECNRS AR 10920 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude des surfaces par spectroscopie de masse d'ions secondaires (SIMS) et d'electrons (XPS)

Guisnet, M.
Caisso, J.
Grilhe, J.
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Poitiers Univ., 86 - Poitiers (France). Service Commun d'Analyse des Surfaces

January 1988

CNRS AR 12301 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Etude par spectroscopie d'electrons des processus d'ionisation dans les collisions d'atomes et d'ions negatifs avec des cibles atomiques et moleculaires

Boumsellek, Said

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Caracterisation par spectroscopie de photoelectron (ESCA) et microscopie electronique a balayage (MEB) d'interfaces cuivre/cordierite

Han, Byoung Sung

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etudes d'interfaces par spectroscopies vibrationnelles, electronique et optiques

Dumas, Paul
Corset, Jacques
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 94 - Thiais (France). Service de Spectrochimie Infrarouge et Raman

January 1989

SIGLEINIST AR 13441 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude des siliciures de metaux refractaires en couches minces : excitations electroniques, dans la gamme d'energie infra-rouge par spectroscopie d'electrons (H.R.E.E.L.S.)

Pierre, Francois

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Caracterisation d'oxynitrures de silicium par spectroscopie des electrons Auger associee a la pulverisation ionique

Segaud, Jean-Pierre

January 1988

SIGLECNRS TD Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude electronique et physico-chimique des premiers stades de la formation des interfaces GaSb-metal

Doukkali, Mohamed-Aziz

January 1990

SIGLEINIST T 75824 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Spectrometrie d'electrons et analyse quantitative des surfaces. Application a l'XPS. Cas des Nickel-Chrome

Noille-Repoux, Monique
Ecole Nationale Superieure des Mines, 75 - Paris (France)

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 80493 / INIST-CNRS ...

Etude par spectroscopies d'electrons Auger et de pertes d'energie des semi-conducteurs InP(100) et InSb(100)

Bouslama, M'Hammed

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Structures fines des pertes d'energie et des electrons Auger : determination de l'ordre local de l'interface Co/Si (111)

Chainet, Eric

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Spectroscopie des etats electroniques a l'interface InP-sulfure

Klopfenstein, Patrick

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Spectroscopie des etats electroniques a l'interface InP-Nitrures

Astito, Abdelali

January 1990

SIGLEINIST T 75775 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Detection et analyse des rayons X par spectroscopie d'electrons (applications aux techniques de microanalyse en volume et en surface et aux structures fines de l'absorption X)

Cazaux, Jacques
DGRST Paris (FRANCE)
Universite de Reims, Laboratoire de Spectroscopie des Electrons Reims (FRANCE)

January 1982

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude des surfaces et interfaces metal-semiconducteur (Ag/Si; Au/Si) par spectroscopie de pertes d'energies d'electrons lents a haute resolution

Contini, Rino

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Spectrometrie auger sous bombardement simultane d'ions et d'electrons

Benazeth, Nicole
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 31 - Toulouse (France). Lab. de Physique des Solides.
Toulouse-3 Univ., 31 (France). Lab. de Physique des Solides
Institut National des Sciences Appliquees de Toulouse (INSA), 31 (France). Lab. de Physique des Solides

January 1985

SIGLECNRS AR 10920 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude des surfaces par spectroscopie de masse d'ions secondaires (SIMS) et d'electrons (XPS)

Guisnet, M.
Caisso, J.
Grilhe, J.
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Poitiers Univ., 86 - Poitiers (France). Service Commun d'Analyse des Surfaces

January 1988

CNRS AR 12301 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Etude par spectroscopie d'electrons des processus d'ionisation dans les collisions d'atomes et d'ions negatifs avec des cibles atomiques et moleculaires

Boumsellek, Said

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Caracterisation par spectroscopie de photoelectron (ESCA) et microscopie electronique a balayage (MEB) d'interfaces cuivre/cordierite

Han, Byoung Sung

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etudes d'interfaces par spectroscopies vibrationnelles, electronique et optiques

Dumas, Paul
Corset, Jacques
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 94 - Thiais (France). Service de Spectrochimie Infrarouge et Raman

January 1989

SIGLEINIST AR 13441 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude des siliciures de metaux refractaires en couches minces : excitations electroniques, dans la gamme d'energie infra-rouge par spectroscopie d'electrons (H.R.E.E.L.S.)

Pierre, Francois

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Caracterisation d'oxynitrures de silicium par spectroscopie des electrons Auger associee a la pulverisation ionique

Segaud, Jean-Pierre

January 1988

SIGLECNRS TD Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude electronique et physico-chimique des premiers stades de la formation des interfaces GaSb-metal

Doukkali, Mohamed-Aziz

January 1990

SIGLEINIST T 75824 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Spectrometrie d'electrons et analyse quantitative des surfaces. Application a l'XPS. Cas des Nickel-Chrome

Noille-Repoux, Monique
Ecole Nationale Superieure des Mines, 75 - Paris (France)

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 80493 / INIST-CNRS ...

Spectroscopies des electrons Auger et des pertes d'energie et structures fines associees. Application aux interfaces Co-Si et Fe-Si

Abstract

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