Contribution a la modelisation des fautes dans les circuits integres MOS

Contribution a la modelisation et a la commande d'un haut-fourneau

Rachid, Ahmed

January 1986

SIGLECNRS T 60153 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la verification des circuits integres dans un environnement multivarie

Caisso, Jean-Paul
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Modelisation de pannes et methodes de test de circuits integres CMOS

Baschiera, Daniel
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1986

SIGLECNRS T 60130 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a des outils de conception de circuits integres

Guilbert, Laurent

January 1990

SIGLEINIST T 73459 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la caracterisation et modelisation de transistors a effet de champ pour la conception des circuits integres monolithiques microondes

Montoriol, Gilles

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la modelisation des carreaux troues

Zidna, Ahmed

January 1990

SIGLEINIST T 75554 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'analyse automatique de circuits integres VLSI

Villemon, Marc

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la modelisation des transistors haute frequence

Zimmer, Thomas

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 83857 / INIST-CNRS -...

Contribution a la modelisation des transistors MOS silicium sur isolant : application aux transistors MOS silicium sur saphir

Mazaleyrat, Eric

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la caracterisation et a la modelisation de transistors NMOS submicroniques en haute frequence

Raynaud, Christine
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1988

SIGLECNRS T 65021 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la modelisation non lineaire des TECs AsGa pour la C.A.O. des circuits monolithiques microondes

Villard, Marie-Jose
Obregon, Juan

January 1990

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 77979 / INIST-CNRS -...

Analyse statistique des circuits integres: caracterisation des modeles

Romefort Villedieu, Dominique

January 1990

SIGLEINIST T 73975 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la generation automatique de masques de structures regulieres de circuits integres

Espitalier, Isabelle

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la modelisation des transistors a effet de champ en arseniure de gallium pour les circuits integres monolithiques microondes

Lienhart, Marc-Yves
Ecole Nationale Superieure des Telecommunications (ENST), 75 - Paris (France)

January 1988

SIGLECNRS RP 207 (178) / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la modelisation du comportement mecanique descomposites stratifies

Le Dantec, Eric

January 1989

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Contribution a la modelisation et a la commande d'un haut-fourneau

Rachid, Ahmed

January 1986

SIGLECNRS T 60153 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la verification des circuits integres dans un environnement multivarie

Caisso, Jean-Paul
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Modelisation de pannes et methodes de test de circuits integres CMOS

Baschiera, Daniel
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1986

SIGLECNRS T 60130 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a des outils de conception de circuits integres

Guilbert, Laurent

January 1990

SIGLEINIST T 73459 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la caracterisation et modelisation de transistors a effet de champ pour la conception des circuits integres monolithiques microondes

Montoriol, Gilles

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la modelisation des carreaux troues

Zidna, Ahmed

January 1990

SIGLEINIST T 75554 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'analyse automatique de circuits integres VLSI

Villemon, Marc

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la modelisation des transistors haute frequence

Zimmer, Thomas

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 83857 / INIST-CNRS -...

Contribution a la modelisation des transistors MOS silicium sur isolant : application aux transistors MOS silicium sur saphir

Mazaleyrat, Eric

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la caracterisation et a la modelisation de transistors NMOS submicroniques en haute frequence

Raynaud, Christine
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1988

SIGLECNRS T 65021 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la modelisation non lineaire des TECs AsGa pour la C.A.O. des circuits monolithiques microondes

Villard, Marie-Jose
Obregon, Juan

January 1990

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 77979 / INIST-CNRS -...

Analyse statistique des circuits integres: caracterisation des modeles

Romefort Villedieu, Dominique

January 1990

SIGLEINIST T 73975 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la generation automatique de masques de structures regulieres de circuits integres

Espitalier, Isabelle

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la modelisation des transistors a effet de champ en arseniure de gallium pour les circuits integres monolithiques microondes

Lienhart, Marc-Yves
Ecole Nationale Superieure des Telecommunications (ENST), 75 - Paris (France)

January 1988

SIGLECNRS RP 207 (178) / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la modelisation du comportement mecanique descomposites stratifies

Le Dantec, Eric

January 1989

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Contribution a la modelisation et a la commande d'un haut-fourneau

Rachid, Ahmed

January 1986

SIGLECNRS T 60153 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la verification des circuits integres dans un environnement multivarie

Caisso, Jean-Paul
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Modelisation de pannes et methodes de test de circuits integres CMOS

Baschiera, Daniel
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1986

SIGLECNRS T 60130 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la modelisation des fautes dans les circuits integres MOS

Abstract

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