Contribution a l'etude et au developpement de techniques d'analyse de testabilite de descriptions comportementales de circuits

Generation de test de circuits integres fondee sur des modeles fonctionnels

Karam, Margot
Crastes, Michel
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79502 / INIST-CNRS -...

Contribution a l'etude de la tetrode MOS. Conduction et bruit de fond basse frequence

Sadiki, Mohammed

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 84274 / INIST-CNRS -...

Contribution a l'etude de l'ecoulement turbulent dans les circuits d'alimentation et dans les augets de turbines Pelton

Houdeline, Jean-Bernard

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79581 / INIST-CNRS -...

Etude des concepts de realisation et de fonctionnement de simulateur de circuits analogiques ouvert et structure

Rakotoarivelo, Fy
Institut National Polytechnique de Toulouse (INPT), 31 (France)

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 83191 / INIST-CNRS -...

De l'elaboration de strategies de test pour des circuits integres

Laffitte, Marc

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 82911 / INIST-CNRS -...

Contribution a la synthese topologique de circuits integres CMOS

Trauchessec, Joel

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 78862 / INIST-CNRS ...

Contribution au developpement d'une methode d'analyse fonctionnelle des mecanismes parfaits et assistance par ordinateur

Leroy, Antoine

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 80893 / INIST-CNRS ...

Contribution a l'etude des circuits de technologie silicium sur saphir sous irradiation transitoire

Saussine, Jean-Daniel

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 83986 / INIST-CNRS ...

Modelisation structurelle et fonctionnelle des circuits logiques en vue du test

Eudeline, Laurence

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 78880 / INIST-CNRS ...

Contribution a la modelisation des transistors haute frequence

Zimmer, Thomas

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 83857 / INIST-CNRS -...

Etude des surfaces physiques des semiconducteurs III-V pour l'elaboration de circuits IC ou OEIC

Tchandjou, Nkeuna

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 81038 / INIST-CNRS ...

Contribution a l'etude et au developpement d'un generateur de sequences de test comportemental

Courbis, Anne-Lise

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 81328 / INIST-CNRS -...

Le durcissement des technologies de circuits integres

Auberton-Herve, A.J.
Leray, J.L.
CEA Centre d'Etudes Nucleaires de Grenoble, 38 (France). Lab. d'Electronique et de Technologie de l'Informatique (LETI)

January 1991

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : RM 1008 / INIST-CNRS - I...

Test aleatoire: Evaluation de la testabilite des circuits combinatoires

Simeu, Emmanuel
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1992

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 84385 / INIST-CNRS - Inst...

Caracterisation de dispositifs pour la modelisation et la simulation de circuits

Provost, Jean
Charlot, Jean- Jacques
Bouchakour, Rachid
Ecole Nationale Superieure des Telecommunications (ENST), 75 - Paris (France). Dept. Electronique

January 1990

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : RP 10329 / INIST-CNRS - ...

Generation de test de circuits integres fondee sur des modeles fonctionnels

Karam, Margot
Crastes, Michel
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79502 / INIST-CNRS -...

Contribution a l'etude de la tetrode MOS. Conduction et bruit de fond basse frequence

Sadiki, Mohammed

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 84274 / INIST-CNRS -...

Contribution a l'etude de l'ecoulement turbulent dans les circuits d'alimentation et dans les augets de turbines Pelton

Houdeline, Jean-Bernard

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79581 / INIST-CNRS -...

Etude des concepts de realisation et de fonctionnement de simulateur de circuits analogiques ouvert et structure

Rakotoarivelo, Fy
Institut National Polytechnique de Toulouse (INPT), 31 (France)

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 83191 / INIST-CNRS -...

De l'elaboration de strategies de test pour des circuits integres

Laffitte, Marc

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 82911 / INIST-CNRS -...

Contribution a la synthese topologique de circuits integres CMOS

Trauchessec, Joel

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 78862 / INIST-CNRS ...

Contribution au developpement d'une methode d'analyse fonctionnelle des mecanismes parfaits et assistance par ordinateur

Leroy, Antoine

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 80893 / INIST-CNRS ...

Contribution a l'etude des circuits de technologie silicium sur saphir sous irradiation transitoire

Saussine, Jean-Daniel

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 83986 / INIST-CNRS ...

Modelisation structurelle et fonctionnelle des circuits logiques en vue du test

Eudeline, Laurence

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 78880 / INIST-CNRS ...

Contribution a la modelisation des transistors haute frequence

Zimmer, Thomas

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 83857 / INIST-CNRS -...

Etude des surfaces physiques des semiconducteurs III-V pour l'elaboration de circuits IC ou OEIC

Tchandjou, Nkeuna

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 81038 / INIST-CNRS ...

Contribution a l'etude et au developpement d'un generateur de sequences de test comportemental

Courbis, Anne-Lise

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 81328 / INIST-CNRS -...

Le durcissement des technologies de circuits integres

Auberton-Herve, A.J.
Leray, J.L.
CEA Centre d'Etudes Nucleaires de Grenoble, 38 (France). Lab. d'Electronique et de Technologie de l'Informatique (LETI)

January 1991

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : RM 1008 / INIST-CNRS - I...

Test aleatoire: Evaluation de la testabilite des circuits combinatoires

Simeu, Emmanuel
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1992

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 84385 / INIST-CNRS - Inst...

Caracterisation de dispositifs pour la modelisation et la simulation de circuits

Provost, Jean
Charlot, Jean- Jacques
Bouchakour, Rachid
Ecole Nationale Superieure des Telecommunications (ENST), 75 - Paris (France). Dept. Electronique

January 1990

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : RP 10329 / INIST-CNRS - ...

Generation de test de circuits integres fondee sur des modeles fonctionnels

Karam, Margot
Crastes, Michel
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79502 / INIST-CNRS -...

Contribution a l'etude de la tetrode MOS. Conduction et bruit de fond basse frequence

Sadiki, Mohammed

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 84274 / INIST-CNRS -...

Contribution a l'etude de l'ecoulement turbulent dans les circuits d'alimentation et dans les augets de turbines Pelton

Houdeline, Jean-Bernard

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79581 / INIST-CNRS -...

Contribution a l'etude et au developpement de techniques d'analyse de testabilite de descriptions comportementales de circuits

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