Generation de test de circuits integres fondee sur des modeles fonctionnels

Rapport final du projet specification et preuve formelle de circuits

Madre, Jean Christophe
Bull, 75 - Paris (France)
Laboratoire Artemis, 38 - Grenoble (France)
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 - Grenoble (France). Lab. de Genie Informatique (LGI)
Grenoble-1 Univ., 38 - Saint-Martin-d'Heres (France). Lab. de Genie Informatique (LGI)
Informatique et Mathematiques Appliquees de Grenoble (IMAG), 38 - Saint-Martin-d'Heres (France). Lab. de Genie Informatique de Grenoble (LGIG)
Verilog, 31 - Toulouse (France)

January 1992

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 15771 / INIST-CNRS - Ins...

Le durcissement des technologies de circuits integres

Auberton-Herve, A.J.
Leray, J.L.
CEA Centre d'Etudes Nucleaires de Grenoble, 38 (France). Lab. d'Electronique et de Technologie de l'Informatique (LETI)

January 1991

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : RM 1008 / INIST-CNRS - I...

Synthese de circuits digitaux synchrones par transformations de programmes fonctionnels

Kessaci, Kamel
Ecole Nationale Superieure de l'Aeronautique et de l'Espace de Toulouse, 31 (France)

January 1992

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 83711 / INIST-CNRS - Ins...

Modelisation structurelle et fonctionnelle des circuits logiques en vue du test

Eudeline, Laurence

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 78880 / INIST-CNRS ...

De l'elaboration de strategies de test pour des circuits integres

Laffitte, Marc

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 82911 / INIST-CNRS -...

Test aleatoire: Evaluation de la testabilite des circuits combinatoires

Simeu, Emmanuel
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1992

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 84385 / INIST-CNRS - Inst...

Modelisation en vue du test des flux de controle et des flux de donnees des descriptions comportementales de circuits digitaux

Djafari, Mustapha Kamel

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 82047 / INIST-CNRS ...

Contribution au test integre deterministe: Structures de generation de vecteurs de test

Lew Yan Voon, Lew Fock Cho

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 81998 / INIST-CNRS -...

Circuits integres de puissance de 2eme generation

Peyre la Vigne, Andre
Buxo, Jean (eds.)
Motorola Semiconducteurs S.A., 31 - Toulouse (France)

January 1992

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 15935 (1); AR 15935 (2) ...

Contribution a l'etude et au developpement de techniques d'analyse de testabilite de descriptions comportementales de circuits

Boumedine, Marc

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 81329 / INIST-CNRS -...

Contribution a l'etude et au developpement d'un generateur de sequences de test comportemental

Courbis, Anne-Lise

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 81328 / INIST-CNRS -...

Generation fonctionnelle du test de circuits a haute densite d'integration

Bianchi, Christophe
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 69 - Villeurbanne (France)

January 1990

SIGLEINIST T 72950 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Caracterisation de dispositifs pour la modelisation et la simulation de circuits

Provost, Jean
Charlot, Jean- Jacques
Bouchakour, Rachid
Ecole Nationale Superieure des Telecommunications (ENST), 75 - Paris (France). Dept. Electronique

January 1990

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : RP 10329 / INIST-CNRS - ...

Generation automatique de moyens de test VLSI: application a l'approche ALMA

Chea, Tong Hoa
Ecole Nationale Superieure des Telecommunications (ENST), 75 - Paris (France)

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 81677 / INIST-CNRS -...

Etude des concepts de realisation et de fonctionnement de simulateur de circuits analogiques ouvert et structure

Rakotoarivelo, Fy
Institut National Polytechnique de Toulouse (INPT), 31 (France)

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 83191 / INIST-CNRS -...

Rapport final du projet specification et preuve formelle de circuits

Madre, Jean Christophe
Bull, 75 - Paris (France)
Laboratoire Artemis, 38 - Grenoble (France)
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 - Grenoble (France). Lab. de Genie Informatique (LGI)
Grenoble-1 Univ., 38 - Saint-Martin-d'Heres (France). Lab. de Genie Informatique (LGI)
Informatique et Mathematiques Appliquees de Grenoble (IMAG), 38 - Saint-Martin-d'Heres (France). Lab. de Genie Informatique de Grenoble (LGIG)
Verilog, 31 - Toulouse (France)

January 1992

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 15771 / INIST-CNRS - Ins...

Le durcissement des technologies de circuits integres

Auberton-Herve, A.J.
Leray, J.L.
CEA Centre d'Etudes Nucleaires de Grenoble, 38 (France). Lab. d'Electronique et de Technologie de l'Informatique (LETI)

January 1991

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : RM 1008 / INIST-CNRS - I...

Synthese de circuits digitaux synchrones par transformations de programmes fonctionnels

Kessaci, Kamel
Ecole Nationale Superieure de l'Aeronautique et de l'Espace de Toulouse, 31 (France)

January 1992

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 83711 / INIST-CNRS - Ins...

Modelisation structurelle et fonctionnelle des circuits logiques en vue du test

Eudeline, Laurence

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 78880 / INIST-CNRS ...

De l'elaboration de strategies de test pour des circuits integres

Laffitte, Marc

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 82911 / INIST-CNRS -...

Test aleatoire: Evaluation de la testabilite des circuits combinatoires

Simeu, Emmanuel
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1992

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 84385 / INIST-CNRS - Inst...

Modelisation en vue du test des flux de controle et des flux de donnees des descriptions comportementales de circuits digitaux

Djafari, Mustapha Kamel

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 82047 / INIST-CNRS ...

Contribution au test integre deterministe: Structures de generation de vecteurs de test

Lew Yan Voon, Lew Fock Cho

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 81998 / INIST-CNRS -...

Circuits integres de puissance de 2eme generation

Peyre la Vigne, Andre
Buxo, Jean (eds.)
Motorola Semiconducteurs S.A., 31 - Toulouse (France)

January 1992

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 15935 (1); AR 15935 (2) ...

Contribution a l'etude et au developpement de techniques d'analyse de testabilite de descriptions comportementales de circuits

Boumedine, Marc

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 81329 / INIST-CNRS -...

Contribution a l'etude et au developpement d'un generateur de sequences de test comportemental

Courbis, Anne-Lise

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 81328 / INIST-CNRS -...

Generation fonctionnelle du test de circuits a haute densite d'integration

Bianchi, Christophe
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 69 - Villeurbanne (France)

January 1990

SIGLEINIST T 72950 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Caracterisation de dispositifs pour la modelisation et la simulation de circuits

Provost, Jean
Charlot, Jean- Jacques
Bouchakour, Rachid
Ecole Nationale Superieure des Telecommunications (ENST), 75 - Paris (France). Dept. Electronique

January 1990

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : RP 10329 / INIST-CNRS - ...

Generation automatique de moyens de test VLSI: application a l'approche ALMA

Chea, Tong Hoa
Ecole Nationale Superieure des Telecommunications (ENST), 75 - Paris (France)

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 81677 / INIST-CNRS -...

Etude des concepts de realisation et de fonctionnement de simulateur de circuits analogiques ouvert et structure

Rakotoarivelo, Fy
Institut National Polytechnique de Toulouse (INPT), 31 (France)

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 83191 / INIST-CNRS -...

Rapport final du projet specification et preuve formelle de circuits

Madre, Jean Christophe
Bull, 75 - Paris (France)
Laboratoire Artemis, 38 - Grenoble (France)
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 - Grenoble (France). Lab. de Genie Informatique (LGI)
Grenoble-1 Univ., 38 - Saint-Martin-d'Heres (France). Lab. de Genie Informatique (LGI)
Informatique et Mathematiques Appliquees de Grenoble (IMAG), 38 - Saint-Martin-d'Heres (France). Lab. de Genie Informatique de Grenoble (LGIG)
Verilog, 31 - Toulouse (France)

January 1992

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 15771 / INIST-CNRS - Ins...

Le durcissement des technologies de circuits integres

Auberton-Herve, A.J.
Leray, J.L.
CEA Centre d'Etudes Nucleaires de Grenoble, 38 (France). Lab. d'Electronique et de Technologie de l'Informatique (LETI)

January 1991

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : RM 1008 / INIST-CNRS - I...

Synthese de circuits digitaux synchrones par transformations de programmes fonctionnels

Kessaci, Kamel
Ecole Nationale Superieure de l'Aeronautique et de l'Espace de Toulouse, 31 (France)

January 1992

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 83711 / INIST-CNRS - Ins...

Generation de test de circuits integres fondee sur des modeles fonctionnels

Abstract

Extracted data

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