Contribution a l'etude de la diffusion d'impuretes dans le silicium sous oxydation : role des contraintes

Contribution a l'etude des oxinates et des sulfoxinates de cuivre II

Ammor, Said

January 1990

SIGLEINIST T 74517 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'analyse RBS a l'etude des effets d'irradiation sur la diffusion dans les verres d'oxydes

Calmon, Pierre

January 1990

SIGLEINIST T 73505 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Oxydation du silicium stimulee par bombardement electronique : contribution a l'etude du mecanisme de croissance et des proprietes des oxydes ultra-minces

Collot, Philippe

January 1985

SIGLECNRS T 58486 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Diffusion et gettering du chrome dans le silicium dope au bore

Zhu, Jin
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 69 - Villeurbanne (France)

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude de la diffusion d'un contaminant passif dans un ecoulement turbulent

Oudrhiri Benaaddach, Khalid

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude des proprietes de transport de quelques oxydes metalliques et supraconducteurs de basse dimensionnalite

Boujida, Mohamed

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude d'interfaces metaux nobles (Cu, Au, Ag)/silicium et de leurs proprietes d'oxydation

Ringeisen, Francis

January 1984

SIGLECNRS T 56485 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude des faces vicinales du silicium (100) et de leur oxydation

Bensalah, Yassine
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 69 - Villeurbanne (France)

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude de la decomposition explosive de l'oxyde d'ethylene

Ebner, Walter

January 1988

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Contribution a l'etude du silicium poreux: mecanismes de formation; oxydation anodique. Photo et electroluminescence

Bsiesy, Ahmad

January 1991

SIGLEINIST T 75920 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude d'alliages germanium-carbone et silicium-carbone obtenus par OMCVD

Gallon, Claude

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude de la diffusion avec transfert de masse de gouttelettes dans un ecoulement gazeux turbulent

Yoon, Suck Ju

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contributions a l'etude de la solubilisation des oxydes d'uranium

Verdera, Jean-Michel
Ecole Centrale des Arts et Manufactures, 92 - Chatenay-Malabry (France)

January 1987

SIGLECNRS TD Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution à l'étude du cuivre dans le silicium et d'une technique de caractérisation associée.

BELAYACHI-FARID, Assia

January 2003

Le cuivre est un contaminant majeur du silicium, connu pour être à l’origine de défaillances de comp...

Contribution à l'étude du cuivre dans le silicium et d'une technique de caractérisation associée.

BELAYACHI-FARID, Assia

January 2003

Le cuivre est un contaminant majeur du silicium, connu pour être à l’origine de défaillances de comp...

Contribution a l'etude des oxinates et des sulfoxinates de cuivre II

Ammor, Said

January 1990

SIGLEINIST T 74517 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'analyse RBS a l'etude des effets d'irradiation sur la diffusion dans les verres d'oxydes

Calmon, Pierre

January 1990

SIGLEINIST T 73505 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Oxydation du silicium stimulee par bombardement electronique : contribution a l'etude du mecanisme de croissance et des proprietes des oxydes ultra-minces

Collot, Philippe

January 1985

SIGLECNRS T 58486 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Diffusion et gettering du chrome dans le silicium dope au bore

Zhu, Jin
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 69 - Villeurbanne (France)

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude de la diffusion d'un contaminant passif dans un ecoulement turbulent

Oudrhiri Benaaddach, Khalid

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude des proprietes de transport de quelques oxydes metalliques et supraconducteurs de basse dimensionnalite

Boujida, Mohamed

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude d'interfaces metaux nobles (Cu, Au, Ag)/silicium et de leurs proprietes d'oxydation

Ringeisen, Francis

January 1984

SIGLECNRS T 56485 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude des faces vicinales du silicium (100) et de leur oxydation

Bensalah, Yassine
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 69 - Villeurbanne (France)

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude de la decomposition explosive de l'oxyde d'ethylene

Ebner, Walter

January 1988

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Contribution a l'etude du silicium poreux: mecanismes de formation; oxydation anodique. Photo et electroluminescence

Bsiesy, Ahmad

January 1991

SIGLEINIST T 75920 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude d'alliages germanium-carbone et silicium-carbone obtenus par OMCVD

Gallon, Claude

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude de la diffusion avec transfert de masse de gouttelettes dans un ecoulement gazeux turbulent

Yoon, Suck Ju

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contributions a l'etude de la solubilisation des oxydes d'uranium

Verdera, Jean-Michel
Ecole Centrale des Arts et Manufactures, 92 - Chatenay-Malabry (France)

January 1987

SIGLECNRS TD Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution à l'étude du cuivre dans le silicium et d'une technique de caractérisation associée.

BELAYACHI-FARID, Assia

January 2003

Le cuivre est un contaminant majeur du silicium, connu pour être à l’origine de défaillances de comp...

Contribution à l'étude du cuivre dans le silicium et d'une technique de caractérisation associée.

BELAYACHI-FARID, Assia

January 2003

Le cuivre est un contaminant majeur du silicium, connu pour être à l’origine de défaillances de comp...

Contribution a l'etude des oxinates et des sulfoxinates de cuivre II

Ammor, Said

January 1990

SIGLEINIST T 74517 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'analyse RBS a l'etude des effets d'irradiation sur la diffusion dans les verres d'oxydes

Calmon, Pierre

January 1990

SIGLEINIST T 73505 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Oxydation du silicium stimulee par bombardement electronique : contribution a l'etude du mecanisme de croissance et des proprietes des oxydes ultra-minces

Collot, Philippe

January 1985

SIGLECNRS T 58486 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude de la diffusion d'impuretes dans le silicium sous oxydation : role des contraintes

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