Test de circuits integres par faisceau d'electrons : etude de la mesure de potentiel a travers les couches isolantes

Une methode de test des circuits integres VLSI a structure pipeline serie et la generation automatique des vecteurs de test

Sudibyo, Harry

January 1987

SIGLECNRS TD Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Mise au point de circuits integres par microscopie electronique

Courtois, B
Centre National de la Recherche Scientifique, LA 7, Laboratoire d'Informatique et de Mathematiques Appliques de Grenoble, Computer Architecture Group Grenoble (FRANCE)
Universite de Grenoble I, Institut National Polytechnique de Grenoble Grenoble (FRANCE)

January 1982

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Conception et test de circuits integres personnalises

Rey, G.
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Institut National des Sciences Appliquees de Toulouse, 31 - Toulouse (France). Atelier Interuniversitaire de Microelectronique

January 1986

SIGLECNRS AR 11530 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude de la controlabilite des circuits integres par faisceaux d'electrons

Micollet, Dominique
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Tester les circuits integres : la microscopie electronique a balayage au CNS

Fournier, J.M.
Rivoire, P.
Vernay, Y.J.
Centre National d'Etudes des Telecommunications (CNET), 38 - Meylan (France). Div. Conception des Circuits Integres

January 1986

SIGLECNRS RP 253 (50) / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Test par faisceau d'electrons et analyse d'images: contribution au diagnostic automatique et assiste de pannes dans les circuits integres

Pierrel, Jean-Philippe

January 1992

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 83852 / INIST-CNRS - Inst...

Sur la theorie du test des circuits digitaux : mesures de la confiance

Jacomino Dancet, Mireille
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Test des circuits integres VLSI

Verdillon, A.
Informatique et Mathematiques Appliquees de Grenoble (IMAG), 38 - Saint-Martin-d'Heres (France). Lab. de Genie Informatique de Grenoble (LGIG)

January 1988

SIGLECNRS 17660 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse de defaillances de circuits integres par microscopie electronique: premieres experimentations

Bergher, Laurent
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 38 - Saint-Martin-d'Heres (France). Informatique et Mathematiques Appliquees de Grenoble
Grenoble-1 Univ., 38 (France)
Institut National Polytechnique de Grenoble, 38 (France)

January 1984

SIGLECNRS RS 17660 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude et conception des circuits de test en technologie bipolaire GaAs

Kazeminejad, Abdol Amir

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse des circuits integres par microscopie electronique en transmission : controle de qualite, evaluation de la fiabilite

Duzellier, Sophie

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Circuits integres digitaux: outils de conception, test integre

Dufaza, Christian

January 1989

SIGLEINIST T 73129 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Effets des ions lourds energetiques sur les circuits integres: application au cas de circuits MOS, MOS sur isolants et GaAs

Musseau, Olivier

January 1991

SIGLEINIST T 74780 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Diagnostic de fautes dans les circuits combinatoires a l'aide d'experiences de test partiellement aleatoire

Liu, Jinming
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1990

SIGLEINIST T 73034 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Un circuit integre de generation et analyse de vecteurs pour le test de cartes a microprocesseur

Borrione, D.
Ronald, E
Humbert, M.
Caubet, B.
Courtois, B.
Guyot, A.
Centre National de la Recherche Scientifique, LA 7, Laboratoire d'Informatique et de Mathematiques Appliquees de Grenoble Grenoble (FRANCE)
Universite de Grenoble 1, Institut National Polytechnique de Grenoble Grenoble (FRANCE)

January 1982

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Une methode de test des circuits integres VLSI a structure pipeline serie et la generation automatique des vecteurs de test

Sudibyo, Harry

January 1987

SIGLECNRS TD Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Mise au point de circuits integres par microscopie electronique

Courtois, B
Centre National de la Recherche Scientifique, LA 7, Laboratoire d'Informatique et de Mathematiques Appliques de Grenoble, Computer Architecture Group Grenoble (FRANCE)
Universite de Grenoble I, Institut National Polytechnique de Grenoble Grenoble (FRANCE)

January 1982

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Conception et test de circuits integres personnalises

Rey, G.
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Institut National des Sciences Appliquees de Toulouse, 31 - Toulouse (France). Atelier Interuniversitaire de Microelectronique

January 1986

SIGLECNRS AR 11530 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude de la controlabilite des circuits integres par faisceaux d'electrons

Micollet, Dominique
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Tester les circuits integres : la microscopie electronique a balayage au CNS

Fournier, J.M.
Rivoire, P.
Vernay, Y.J.
Centre National d'Etudes des Telecommunications (CNET), 38 - Meylan (France). Div. Conception des Circuits Integres

January 1986

SIGLECNRS RP 253 (50) / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Test par faisceau d'electrons et analyse d'images: contribution au diagnostic automatique et assiste de pannes dans les circuits integres

Pierrel, Jean-Philippe

January 1992

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 83852 / INIST-CNRS - Inst...

Sur la theorie du test des circuits digitaux : mesures de la confiance

Jacomino Dancet, Mireille
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Test des circuits integres VLSI

Verdillon, A.
Informatique et Mathematiques Appliquees de Grenoble (IMAG), 38 - Saint-Martin-d'Heres (France). Lab. de Genie Informatique de Grenoble (LGIG)

January 1988

SIGLECNRS 17660 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse de defaillances de circuits integres par microscopie electronique: premieres experimentations

Bergher, Laurent
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 38 - Saint-Martin-d'Heres (France). Informatique et Mathematiques Appliquees de Grenoble
Grenoble-1 Univ., 38 (France)
Institut National Polytechnique de Grenoble, 38 (France)

January 1984

SIGLECNRS RS 17660 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude et conception des circuits de test en technologie bipolaire GaAs

Kazeminejad, Abdol Amir

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse des circuits integres par microscopie electronique en transmission : controle de qualite, evaluation de la fiabilite

Duzellier, Sophie

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Circuits integres digitaux: outils de conception, test integre

Dufaza, Christian

January 1989

SIGLEINIST T 73129 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Effets des ions lourds energetiques sur les circuits integres: application au cas de circuits MOS, MOS sur isolants et GaAs

Musseau, Olivier

January 1991

SIGLEINIST T 74780 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Diagnostic de fautes dans les circuits combinatoires a l'aide d'experiences de test partiellement aleatoire

Liu, Jinming
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1990

SIGLEINIST T 73034 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Un circuit integre de generation et analyse de vecteurs pour le test de cartes a microprocesseur

Borrione, D.
Ronald, E
Humbert, M.
Caubet, B.
Courtois, B.
Guyot, A.
Centre National de la Recherche Scientifique, LA 7, Laboratoire d'Informatique et de Mathematiques Appliquees de Grenoble Grenoble (FRANCE)
Universite de Grenoble 1, Institut National Polytechnique de Grenoble Grenoble (FRANCE)

January 1982

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Une methode de test des circuits integres VLSI a structure pipeline serie et la generation automatique des vecteurs de test

Sudibyo, Harry

January 1987

SIGLECNRS TD Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Mise au point de circuits integres par microscopie electronique

Courtois, B
Centre National de la Recherche Scientifique, LA 7, Laboratoire d'Informatique et de Mathematiques Appliques de Grenoble, Computer Architecture Group Grenoble (FRANCE)
Universite de Grenoble I, Institut National Polytechnique de Grenoble Grenoble (FRANCE)

January 1982

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Conception et test de circuits integres personnalises

Rey, G.
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Institut National des Sciences Appliquees de Toulouse, 31 - Toulouse (France). Atelier Interuniversitaire de Microelectronique

January 1986

SIGLECNRS AR 11530 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Test de circuits integres par faisceau d'electrons : etude de la mesure de potentiel a travers les couches isolantes

Abstract

Extracted data

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