Ask
Search
My library
ORKG

ORKG Ask

Our mission is to organize scholarly knowledge and make it accessible to humans and machines.

About

About ORKG Ask
Report issue
Statistics
Contact

Legal

Terms of use
Data protection (sheet)
Imprint
Accessibility
License

Technical

We
open source
System status
Changelog
Frontend: v1.41.0
Backend: v1.13.4

We use cookies to provide a better user experience.

Data Protection

L'electronique de l'image graphique dans les micro-ordinateurs

Gallo, Jean-Claude

Publication date

January 1988

Abstract

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Extracted data

Related items

Formation et simulation de l'image en microscopie electronique a haute resolution : application a la structure de composes de type lamellaire

Li, Zhigang

January 1987

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Proprietes electroniques des superreseaux HgTe-CdTe

Berroir, Jean-Marc

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Microscopie electronique a haute resolution. Visualisation des reseaux cristallins et de leurs defauts

Desseaux, J
CEA, CEN Grenoble, 38 (France)

January 1981

SIGLEAvailable from CEN Saclay, Service de Documentation, 91191 Gif-sur-Yvette Cedex (France) / INIS...

Etude et realisation d'un systeme de traitement des images adapte a la microscopie electronique a balayage

Maldonado, Jose
Institut National Polytechnique, 31 - Toulouse (France)

January 1987

SIGLECNRS TD Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Acquisition des images en microscopie electronique a balayage in situ

Le Floch, Herve

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Traitement d'images de microscopie electronique applique a l'etude structurale de macromolecules biologiques

Louys, Mireille

January 1988

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Calcul scientifique. Imagerie. Graphisme

Petroff, Jean-Francois
Paris-6 Univ., 75 (France). Lab. de Mineralogie et Cristallographie
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)

January 1987

CNRS AR 12020 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Proprietes electroniques des alliages quasicristallins AlMn

Berger, Claire

January 1987

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Les graphes a motifs

Caucal, Didier
Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (INRIA), 35 (France). Unite de Recherche de Rennes

January 1988

SIGLECNRS 14802 E / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Archivage electronique multimedia

Segond, Luis Otavio

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Graphes et hypergraphes de chaines d'un arbre

Arami, Zohra

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Methodologie de conception de systemes d'analyse d'images : application a la microscopie electronique

Jolion, Jean-Michel
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 69 - Villeurbanne (France)

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Visualisation d'une famille de graphes

Galagain, Didier

January 1986

CNRS T 59324 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Traitement d'image du gel d'electrophorese bidimensionnelle

Hadjem, Ammar Saied dit Abdenour

January 1988

SIGLECNRS TD 17374 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Dispositifs electrochimiques pour visualisation

Bohnke, O.
Robert, Guy
Bohnke, C.
Carquille, B
FRT Paris (FRANCE)
Centre national de la recherche scientifique, ERA 810, Laboratoire d'electrochimie des solides Besancon (FRANCE)

January 1984

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Formation et simulation de l'image en microscopie electronique a haute resolution : application a la structure de composes de type lamellaire

Li, Zhigang

January 1987

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Proprietes electroniques des superreseaux HgTe-CdTe

Berroir, Jean-Marc

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Microscopie electronique a haute resolution. Visualisation des reseaux cristallins et de leurs defauts

Desseaux, J
CEA, CEN Grenoble, 38 (France)

January 1981

SIGLEAvailable from CEN Saclay, Service de Documentation, 91191 Gif-sur-Yvette Cedex (France) / INIS...

Etude et realisation d'un systeme de traitement des images adapte a la microscopie electronique a balayage

Maldonado, Jose
Institut National Polytechnique, 31 - Toulouse (France)

January 1987

SIGLECNRS TD Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Acquisition des images en microscopie electronique a balayage in situ

Le Floch, Herve

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Traitement d'images de microscopie electronique applique a l'etude structurale de macromolecules biologiques

Louys, Mireille

January 1988

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Calcul scientifique. Imagerie. Graphisme

Petroff, Jean-Francois
Paris-6 Univ., 75 (France). Lab. de Mineralogie et Cristallographie
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)

January 1987

CNRS AR 12020 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Proprietes electroniques des alliages quasicristallins AlMn

Berger, Claire

January 1987

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Les graphes a motifs

Caucal, Didier
Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (INRIA), 35 (France). Unite de Recherche de Rennes

January 1988

SIGLECNRS 14802 E / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Archivage electronique multimedia

Segond, Luis Otavio

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Graphes et hypergraphes de chaines d'un arbre

Arami, Zohra

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Methodologie de conception de systemes d'analyse d'images : application a la microscopie electronique

Jolion, Jean-Michel
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 69 - Villeurbanne (France)

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Visualisation d'une famille de graphes

Galagain, Didier

January 1986

CNRS T 59324 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Traitement d'image du gel d'electrophorese bidimensionnelle

Hadjem, Ammar Saied dit Abdenour

January 1988

SIGLECNRS TD 17374 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Dispositifs electrochimiques pour visualisation

Bohnke, O.
Robert, Guy
Bohnke, C.
Carquille, B
FRT Paris (FRANCE)
Centre national de la recherche scientifique, ERA 810, Laboratoire d'electrochimie des solides Besancon (FRANCE)

January 1984

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Formation et simulation de l'image en microscopie electronique a haute resolution : application a la structure de composes de type lamellaire

Li, Zhigang

January 1987

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Proprietes electroniques des superreseaux HgTe-CdTe

Berroir, Jean-Marc

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Microscopie electronique a haute resolution. Visualisation des reseaux cristallins et de leurs defauts

Desseaux, J
CEA, CEN Grenoble, 38 (France)

January 1981

SIGLEAvailable from CEN Saclay, Service de Documentation, 91191 Gif-sur-Yvette Cedex (France) / INIS...