Analyse de signature des circuits integres complexes par test aleatoire utilisant les methodes de traitement du signal : application a un microprocesseur

Analyse de signature et test en ligne integre sur silicium

Leveugle, Regis
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1990

SIGLEINIST T 71049 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'analyse automatique de circuits integres VLSI

Villemon, Marc

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Test de circuits integres par faisceau d'electrons : etude de la mesure de potentiel a travers les couches isolantes

Fremont, Helene

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse des circuits integres par microscopie electronique en transmission : controle de qualite, evaluation de la fiabilite

Duzellier, Sophie

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Un circuit integre de generation et analyse de vecteurs pour le test de cartes a microprocesseur

Borrione, D.
Ronald, E
Humbert, M.
Caubet, B.
Courtois, B.
Guyot, A.
Centre National de la Recherche Scientifique, LA 7, Laboratoire d'Informatique et de Mathematiques Appliquees de Grenoble Grenoble (FRANCE)
Universite de Grenoble 1, Institut National Polytechnique de Grenoble Grenoble (FRANCE)

January 1982

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Validation des sequences de test des circuits integres complexes : contribution au developpement de l'outil informatique SOLINE

Abid, Mohamed
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 31 - Toulouse (France)

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution au test autonome des circuits V.L.S.I. : un microprocesseur a test aleatoire integre

Thorel, Pierre
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude, mise en oeuvre et tests d'un simulateur de microprocesseur de traitement du signal

Aubert, Denis

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Une methode de test des circuits integres VLSI a structure pipeline serie et la generation automatique des vecteurs de test

Sudibyo, Harry

January 1987

SIGLECNRS TD Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse de defaillances de circuits integres par microscopie electronique: premieres experimentations

Bergher, Laurent
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 38 - Saint-Martin-d'Heres (France). Informatique et Mathematiques Appliquees de Grenoble
Grenoble-1 Univ., 38 (France)
Institut National Polytechnique de Grenoble, 38 (France)

January 1984

SIGLECNRS RS 17660 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse temporelle de signaux rapides dans des interconnexions de circuits integres silicium

Abiri-Jahromi, Habibollah
Chilo, J.
Monllor, C.
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 38 - Grenoble (France). Electromagnetisme-Micro-Ondes-Optoelectronique
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France). Lab. d'Electromagnetisme Micro-ondes et Optoelectronique.
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)

January 1986

CNRS AR 11957 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Sur la theorie du test des circuits digitaux : mesures de la confiance

Jacomino Dancet, Mireille
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Signature analysis of circuits with detection of single faults

Latypov R.

March 2020

A test system is considered in which the signature analyzer, i.e. the most frequently applied system...

Application des circuits integres autotestables a la surete de fonctionnement des systemes

Noraz, Serge
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Tester les circuits integres : la microscopie electronique a balayage au CNS

Fournier, J.M.
Rivoire, P.
Vernay, Y.J.
Centre National d'Etudes des Telecommunications (CNET), 38 - Meylan (France). Div. Conception des Circuits Integres

January 1986

SIGLECNRS RP 253 (50) / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse de signature et test en ligne integre sur silicium

Leveugle, Regis
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1990

SIGLEINIST T 71049 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'analyse automatique de circuits integres VLSI

Villemon, Marc

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Test de circuits integres par faisceau d'electrons : etude de la mesure de potentiel a travers les couches isolantes

Fremont, Helene

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse des circuits integres par microscopie electronique en transmission : controle de qualite, evaluation de la fiabilite

Duzellier, Sophie

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Un circuit integre de generation et analyse de vecteurs pour le test de cartes a microprocesseur

Borrione, D.
Ronald, E
Humbert, M.
Caubet, B.
Courtois, B.
Guyot, A.
Centre National de la Recherche Scientifique, LA 7, Laboratoire d'Informatique et de Mathematiques Appliquees de Grenoble Grenoble (FRANCE)
Universite de Grenoble 1, Institut National Polytechnique de Grenoble Grenoble (FRANCE)

January 1982

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Validation des sequences de test des circuits integres complexes : contribution au developpement de l'outil informatique SOLINE

Abid, Mohamed
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 31 - Toulouse (France)

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution au test autonome des circuits V.L.S.I. : un microprocesseur a test aleatoire integre

Thorel, Pierre
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude, mise en oeuvre et tests d'un simulateur de microprocesseur de traitement du signal

Aubert, Denis

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Une methode de test des circuits integres VLSI a structure pipeline serie et la generation automatique des vecteurs de test

Sudibyo, Harry

January 1987

SIGLECNRS TD Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse de defaillances de circuits integres par microscopie electronique: premieres experimentations

Bergher, Laurent
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 38 - Saint-Martin-d'Heres (France). Informatique et Mathematiques Appliquees de Grenoble
Grenoble-1 Univ., 38 (France)
Institut National Polytechnique de Grenoble, 38 (France)

January 1984

SIGLECNRS RS 17660 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse temporelle de signaux rapides dans des interconnexions de circuits integres silicium

Abiri-Jahromi, Habibollah
Chilo, J.
Monllor, C.
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 38 - Grenoble (France). Electromagnetisme-Micro-Ondes-Optoelectronique
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France). Lab. d'Electromagnetisme Micro-ondes et Optoelectronique.
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)

January 1986

CNRS AR 11957 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Sur la theorie du test des circuits digitaux : mesures de la confiance

Jacomino Dancet, Mireille
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Signature analysis of circuits with detection of single faults

Latypov R.

March 2020

A test system is considered in which the signature analyzer, i.e. the most frequently applied system...

Application des circuits integres autotestables a la surete de fonctionnement des systemes

Noraz, Serge
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Tester les circuits integres : la microscopie electronique a balayage au CNS

Fournier, J.M.
Rivoire, P.
Vernay, Y.J.
Centre National d'Etudes des Telecommunications (CNET), 38 - Meylan (France). Div. Conception des Circuits Integres

January 1986

SIGLECNRS RP 253 (50) / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse de signature et test en ligne integre sur silicium

Leveugle, Regis
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1990

SIGLEINIST T 71049 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'analyse automatique de circuits integres VLSI

Villemon, Marc

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Test de circuits integres par faisceau d'electrons : etude de la mesure de potentiel a travers les couches isolantes

Fremont, Helene

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse de signature des circuits integres complexes par test aleatoire utilisant les methodes de traitement du signal : application a un microprocesseur

Abstract

Extracted data

Analyse de signature des circuits integres complexes par test aleatoire utilisant les methodes de traitement du signal : application a un microprocesseur

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