Etude de l'emission d'ions negatifs secondaires par pulverisation ionique d'alliages binaires

Etude de la toxicite liee a l'inhalation des produits liberes par la degradation thermique ou la combustion de materiaux

Proteau, Jean
Girard-Wallon, Claudine
Emmerich, Estelle
Beaufort, Claude
Paris-6 Univ., 75 (France). Lab. de Physiologie Chimique
Paris-6 Univ., 75 (France). Lab. de Toxicologie
Hopital Broussais, 75 - Paris (France)
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)

January 1980

SIGLECNRS AR 11621 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Epitaxie a basse temperature de l'AsGa au moyen de la pulverisation par faisceau d'ions

Paris-11 Univ., 91 - Orsay (France). Inst. d'Electronique Fondamentale
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)

January 1981

SIGLECNRS AR 10493 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude experimentale d'une sources d'ions de type duodehcatron pour mesurer le taux de sputtering de differentes cibles avec des ions incidents metalliques : projet concernant l'uranium

Bartosik, Michel

January 1985

SIGLECNRS T 57792 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude de l'emission negative secondaire par pulverisation ionique de composes metalliques : application a la formation d'ions negatifs de certains metaux

Chatei, Hassan

January 1988

SIGLECNRS T 63639 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Emission d'ions secondaires des alliages argent-magnesium

Bernard, Jean Laurent

January 1989

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Spectre d'emission X d'ions silicium par la methode faisceau-feuille

Mosnier, Jean-Paul

January 1986

SIGLECNRS T 59521 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude des mecanismes d'emission ionique secondaire moleculaire induite par bombardement d'ions de faible energie (2-4 keV)

Inchaouh, Jamal

January 1984

SIGLECNRS T 56014 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse des mecanismes d'elaboration de couches minces par pulverisation ionique

Pellet, Claude

January 1985

SIGLECNRS T 57693 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude de l'endommagement induit dans le silicium par des ions lourds de grande energie

Mary, Patrick

January 1990

SIGLEINIST T 75288 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude d'agregats d'ions moleculaires negatifs de dioxyde de soufre

Jorda, Michele

January 1990

SIGLEINIST T 72699 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Detecteurs d'ions a emission secondaire. DIES

Della Negra, S.
Dumail, M.
Le Beyec, Y.
Institut National de Physique Nucleaire et de Physique des Particules, 91 - Orsay (France). Inst. de Physique Nucleaire

January 1985

SIGLECNRS RP 171 (268) / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse en energie des ions et des electrons arrivant sur un substrat polarise negativement dans deux decharges de pulverisation. Influence des bombardements ionique et electronique sur les proprietes et les contraintes residuelles des couches de nitrure de titane obtenues dans ces deux decharges

Jouan, Pierre-Yves

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 84609 / INIST-CNRS -...

Etude de la pulverisation ionique assistee par faisceau d'ions d'oxydes de silicium et de tantale: application aux multicouches optiques

Laprat, Patrice

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79764 / INIST-CNRS -...

Utilisation des echangeurs d'ions dans le traitement des effluents nucleaires

Benaissa, Mohamed Abel

January 1990

SIGLEINIST T 75835 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude experimentale et simulation numerique de l'emission Auger de l'aluminium sous bombardement d'ions argon

Mayoral, Claude

January 1987

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Etude de la toxicite liee a l'inhalation des produits liberes par la degradation thermique ou la combustion de materiaux

Proteau, Jean
Girard-Wallon, Claudine
Emmerich, Estelle
Beaufort, Claude
Paris-6 Univ., 75 (France). Lab. de Physiologie Chimique
Paris-6 Univ., 75 (France). Lab. de Toxicologie
Hopital Broussais, 75 - Paris (France)
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)

January 1980

SIGLECNRS AR 11621 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Epitaxie a basse temperature de l'AsGa au moyen de la pulverisation par faisceau d'ions

Paris-11 Univ., 91 - Orsay (France). Inst. d'Electronique Fondamentale
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)

January 1981

SIGLECNRS AR 10493 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude experimentale d'une sources d'ions de type duodehcatron pour mesurer le taux de sputtering de differentes cibles avec des ions incidents metalliques : projet concernant l'uranium

Bartosik, Michel

January 1985

SIGLECNRS T 57792 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude de l'emission negative secondaire par pulverisation ionique de composes metalliques : application a la formation d'ions negatifs de certains metaux

Chatei, Hassan

January 1988

SIGLECNRS T 63639 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Emission d'ions secondaires des alliages argent-magnesium

Bernard, Jean Laurent

January 1989

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Spectre d'emission X d'ions silicium par la methode faisceau-feuille

Mosnier, Jean-Paul

January 1986

SIGLECNRS T 59521 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude des mecanismes d'emission ionique secondaire moleculaire induite par bombardement d'ions de faible energie (2-4 keV)

Inchaouh, Jamal

January 1984

SIGLECNRS T 56014 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse des mecanismes d'elaboration de couches minces par pulverisation ionique

Pellet, Claude

January 1985

SIGLECNRS T 57693 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude de l'endommagement induit dans le silicium par des ions lourds de grande energie

Mary, Patrick

January 1990

SIGLEINIST T 75288 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude d'agregats d'ions moleculaires negatifs de dioxyde de soufre

Jorda, Michele

January 1990

SIGLEINIST T 72699 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Detecteurs d'ions a emission secondaire. DIES

Della Negra, S.
Dumail, M.
Le Beyec, Y.
Institut National de Physique Nucleaire et de Physique des Particules, 91 - Orsay (France). Inst. de Physique Nucleaire

January 1985

SIGLECNRS RP 171 (268) / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse en energie des ions et des electrons arrivant sur un substrat polarise negativement dans deux decharges de pulverisation. Influence des bombardements ionique et electronique sur les proprietes et les contraintes residuelles des couches de nitrure de titane obtenues dans ces deux decharges

Jouan, Pierre-Yves

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 84609 / INIST-CNRS -...

Etude de la pulverisation ionique assistee par faisceau d'ions d'oxydes de silicium et de tantale: application aux multicouches optiques

Laprat, Patrice

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79764 / INIST-CNRS -...

Utilisation des echangeurs d'ions dans le traitement des effluents nucleaires

Benaissa, Mohamed Abel

January 1990

SIGLEINIST T 75835 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude experimentale et simulation numerique de l'emission Auger de l'aluminium sous bombardement d'ions argon

Mayoral, Claude

January 1987

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Etude de la toxicite liee a l'inhalation des produits liberes par la degradation thermique ou la combustion de materiaux

Proteau, Jean
Girard-Wallon, Claudine
Emmerich, Estelle
Beaufort, Claude
Paris-6 Univ., 75 (France). Lab. de Physiologie Chimique
Paris-6 Univ., 75 (France). Lab. de Toxicologie
Hopital Broussais, 75 - Paris (France)
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)

January 1980

SIGLECNRS AR 11621 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Epitaxie a basse temperature de l'AsGa au moyen de la pulverisation par faisceau d'ions

Paris-11 Univ., 91 - Orsay (France). Inst. d'Electronique Fondamentale
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)

January 1981

SIGLECNRS AR 10493 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude experimentale d'une sources d'ions de type duodehcatron pour mesurer le taux de sputtering de differentes cibles avec des ions incidents metalliques : projet concernant l'uranium

Bartosik, Michel

January 1985

SIGLECNRS T 57792 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude de l'emission d'ions negatifs secondaires par pulverisation ionique d'alliages binaires

Abstract

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